基本原理
手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術,X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子,出現殼層空穴,當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產生特徵X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特徵譜線的光信號轉換成易於測量的電信號來得到待測元素的特徵信息。
儀器特點
——便攜、高效、準確可以在質量控制、材料分類、合金鑑別、事故調查等現場套用。
——選配小點瞄準模式,可檢測被檢測面積較小的樣品,如:焊點、焊縫。
——高性能矽漂(SDD)探測器(25平方毫米),即可分析Mg、Al、Si、P等輕元素。
可分析元素分析範圍
一般可以分析的元素範圍為Na(鈉)~U(鈾)
套用領域
——合金材料鑑別
——金屬工業中質量控制(QC/QA)
——金屬廢料回收
——考古/文物鑑定