嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析

嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析是2012-7北京航空航天大學出版的圖書。

基本信息

• 名稱：嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析
• 作者：武曄卿
• 語種：簡體中文
• ISBN：9787512408227
• 出版社：北京航空航天大學
• 頁數：247
• 開本：16開
• 出版時間：2012年7月
• 裝幀：平裝
• 版次：1

內容介紹

《嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析》介紹了嵌入式系統設計中，哪些地方最可能帶來可靠性隱患，以及從設計上如何進行預防。內容包括：啟動過程和穩態工作中的應力狀態差別等可靠性基礎知識及方法；降額參數和降額因子的選擇方法；風扇和散熱片的定量化計算選型和測試方法、結構和電路的熱設計規範；PCB板布線布局、系統結構的電磁兼容措施；電子產品製造過程中的失效因素（包括EOS、ESD、MSD等）及預防、檢驗方法；可維修性設計規範、可用性設計規範、安全性設計規範、接口軟體可靠性設計規範等方面的技術內容。同時，針對相關內容進行實際的案例分析，以使讀者更好地掌握這些知識。