基本信息
出版社: 大連理工大學出版社; 第1版 (2008年11月1日)
平裝: 160頁
正文語種: 簡體中文
開本: 16
ISBN: 7561144989, 9787561144985
條形碼: 9787561144985
產品尺寸及重量: 22.6 x 15.2 x 1.2 cm ; 281 g
ASIN: B001N6R77Y
內容簡介
《專利計量與專利制度》是基於知識計量的博士學位論文中精選出來，經過進一步補充加工而成的學術專著。從中可以看到作者在著作中通過一幅幅知識圖譜或表格的解讀，形象地展示出某一門學科的學術前沿、代表人物和演化圖景。《專利計量與專利制度》具有學科前沿性，數據完整性，方法先進性，內容創新性的特點。《專利計量與專利制度》適合學術界的廣大研究者和管理者，尤其是對知識計量和知識圖譜有興趣的讀者。
本書是基於知識計量的博士學位論文中精選出來，經過進一步補充加工而成的學術專著。從中可以看到作者在著作中通過一幅幅知識圖譜或表格的解讀，形象地展示出某一門學科的學術前沿、代表人物和演化圖景。本書具有學科前沿性，數據完整性，方法先進性，內容創新性的特點。本書適合學術界的廣大研究者和管理者，尤其是對知識計量和知識圖譜有興趣的讀者。
作者簡介
楊中楷，男，1977年4月生。2007年畢業於大連理工大學，獲管理學博士學位，研究方向為科技管理、專利計量學與科學知識圖譜理論及方法套用。現任教於大連理工大學科技倫理與科技管理研究中心，網路-信息-科學-經濟計量實驗室。
