概述
多通道光測試系統是根據光通信設備研製、光器件生產和工程套用的需要而開發的一種多通道光信號測試系統，是集光開關、光源、光功率計和偏振控器為一體的綜合測試系統。系統採用了精確的數據採集技術和軟體校準技術，結合控制軟體界面，可方便快捷的測試器件在三個波長下的插入損耗（IL）和偏振相關損耗（PDL）。
指標
| 參數 | 指標 |
|---|---|
| 測試項目 | 插入損耗(IL)、偏振相關損耗(PDL) |
| 校準波長 | 1310/1490/1550nm |
| 測試模式 | 單模 |
| 探測器類型 | InGaAs（光敏面：φ2mm） |
| 光功率測試範圍 | －70～+3 dBm |
| 光功率準確度 | ±0.1 dB |
| IL測試準確度 | ±0.1 dB |
| PDL不確定度 | ±0.04 dB |
| PDL重複性 | ±0.01 dB |
| 解析度 | 0.01 dB |
| 測試通道 | 8通道（可擴展） |
| 光源波長 | 1310/1490/1550nm |
| 雷射器類型 | DFB-LD (帶隔離) |
| 光輸出功率 | ≥0 dBm |
| 穩定度 | ±0.02/15min ±0.05/8h |
| 光接口 | 光功率計：FC/SC/ST/φ2.5mm/φ1.25mm |
| 通信接口 | RS232 |
| 電源 | AC 220V/50Hz |
| 工作溫度 | 0~+50℃ |
| 存儲溫度 | －20~+70℃ |
功能特點
測試方便，人機界面友好；
系統與被測器件接好後，點擊開始測試按鈕，系統自動對多路器件掃描測試；
可以事先設定指標、門限閾值，測試完成後自動判斷該器件是否合格；
可根據用戶需求調用不同的指標判定標準；
多通道光測試系統實現無紙化測試，可提高器件的生產、測試效率；
根據不同的產品型號自動導出不同測試單模板；
當某通道不合格時，可選擇重新測試該通道；
支持多條件（如批次號、工單號、測試日期、產品型號等）查詢，批量導出，批量自動列印；
多台機（多個工位）上傳到一個伺服器，並通過特定的管理許可權（密碼）登入訪問伺服器。
