簡述
地質分析技術（geoanalytical technologies）在20世紀60年代以前，分析岩石礦物的主元素、次量元素組分含量，主要以傳統的化學分析為主，統稱為岩礦分析（rock and mineral analysis）。20世紀70～80年代，隨著對岩礦中痕量元素分析的需求和分析技術的進步，多種儀器分析技術得到迅速發展，逐漸結束了以化學分析為主的歷史。20世90年代以來，電子計算機的普遍套用，X射線螢光技術、電感耦合電漿發射光譜、電感耦合等離子質譜的發展，使岩礦分析格局發生了重大變化，現代化的多元素儀器分析已成為主元素，次元素和眾多痕量元素日常分析的主角。同時隨著研究領域的深入和擴展，傳統的岩礦分析範圍已不僅僅是無機的固態岩石礦物，氣、液、流體包裹體、軟物質、冰心、生物體及化石等都成為地質分析的對象；研究目標已不只是元素組成，結構、形貌、形態、價態、同位素、有機成分等都構成了岩礦分析的內容；分析目的物和要求也不僅是整體分析，微區原位分析和元素微區分布特徵、同位素比和年代學測定都成了現代岩礦分析的重要組成部分。當今地質分析的發展方向是：微區原位分析已成為地質分析的重要發展方向；同位素分析已成為地質分析和環境分析的新熱點；自動化多元素同時分析技術已成為日常套用的重要手段；無污染的“綠色分析技術”將成為未來測試技術發展的前沿。主要方法
當今地質分析技術中，包括①用於整體分析的主要方法有：智慧型化X射線螢光技術——主、次和許多痕量元素分析的主要方法；電感耦合等離體發射光譜技術——痕量元素、特別是稀土元素測定的首選方法；電感耦合電漿質譜——痕量元素、超痕量元素分析的最強有力的工具；全反射X射線螢光新技術——痕量樣品（微升級）超痕量（10-10～10-15克）分析和表面分析技術；中子活化分析——最重要的痕量元素分析技術。②用於微區原位分析與元素微區分布分析的方法有：電子微束技術，如電子探針、分析電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡等；X射線及高能粒子微束分析技術，如同步輻射X射線探針、掃描核探針；雷射及低能離子微束分析技術，如二次離子探針質譜、雷射燒蝕電感耦合電漿質譜等。③用於形貌、結構與價態分析技術有：X射線衍射技術、X射線光電子光譜、電子能量損失譜、X射線吸收光譜、掃描隧道顯微技術（包括光電子光譜、俄歇電子譜）、擴展X射線吸收精細結構技術、X射線吸收近限結構技術等。④用於有機分析與形態分析的技術主要有：氣相色譜、氣相色譜質譜聯用技術、高效液相色譜、毛細管電泳技術、紅外光譜、雷射拉曼光譜、超臨界萃取和化學感測器等。⑤用於地質年代學及穩定同位素分析的方法：傳統的年代學技術是以K Ar、U Pb、Pb Pb、Rb Sr、Sm Nd、Re Os為主的熱離子質譜法和負離子質譜法。近年來新的發展引人注目即：微區年代學方法、雷射探針Ar/Ar測年法、宇宙成因同位素加速器質譜、惰性氣體同位素法等。
