原位分析

原位分析又稱現場分析。一類非人工取樣、制樣的就地分析技術與方法。主要是指採用一些現代技術對物質選定區域進行包括成分、含量和分布在內的微區分析。

詞目

原位分析
英文：analysis in-situ

學科：岩礦分析與鑑定

釋文

如 雷射光譜（LAES）、雷射電漿質譜（LA-ICP-MS）、二次離子探針質譜（SIMS）、 電子探針（EMPA）和各類電鏡： 掃描電鏡（SEM）、 透射電鏡（TEM）與 分析電子顯微鏡（AEM）、掃描質：子探針（SPM）或掃描核探針（SNM）和同步輻射X射線探針（SR-XRMP）。前三者屬消耗被分析樣品的破壞性分析技術；後者為不損耗被分析樣品的非破壞性分析技術。含義：原位分析，也就是insitu，原意為“intheplace”，還有“線上”或者“現場”的意思。主要指的是在科學中實時的測試分析，將待測的目標在原來的體系中進行檢測，而不是單獨的將某一目標分離出來進行測定，或模擬條件體系進行檢測。這樣做可以最大限度的在有接近現實情況的條件下進行分析，儘可能的還原現狀，得到準確的數據。現在主要的原位分析技術就是電子探針，離子探針，輝光放電質譜和雷射剝蝕進樣-質譜分析。可以用於同位素分析的，主要是離子探針和雷射剝蝕進樣質譜。