向東[清華大學軟體學院研究員]

清華大學軟體學院研究員，博士生導師。

人物經歷

1987-1990年 畢業於重慶大學獲計算機科學學士學位及碩士學位

1990-1993年 於中國科學院計算技術研究所獲得計算機工程博士學位

1994-1995年 為加拿大 Concordia University——電子工程系博士後

1995-1996年 為 美國伊利諾伊大學香檳分校——電子工程系博士後

1996-2003年 為清華大學微電子學研究所副教授

2003-2004年 為清華大學軟體學院副教授

2003-2003年 為日本奈良先端科大JSPS研究員

2003年-至今 為清華大學研究員博士生導師。

研究方向

數字系統測試與設計：可測試性設計，可測試性分析，低成本測試，自測試，測試碼產生；容錯計算，並行/分散式計算，計算機網路通訊。

主要貢獻

2003: JSPS fellowship;

第十四屆全國容錯計算學術會議（CFTC）2011大會主席

IEEE　Senior Member, 中國計算機學會高級會員

IEEE Trans. Computers, IEEE Trans. Computer-Aided Design, IEEE Trans. Parallel and Distributed Systems, J. of Parallel and Distributed Computing,IEEE Trans. VLSI Systems, IEEE Trans. Reliability，IEEE Trans. on Evolutionary Computation, IEE Proc. Part E, Inform. Sci.等雜誌評審人；《中國科學》等審稿人

IEEE Int. Test Conference, ACM/IEEE Design Automation Conference, Int. Conf. on Parallel Processing, IEEE Int. Symp. On Parallel and Distributed Processing, IEEE Int. Conf. on Distributed Computing Systems, IEEE ISCAS審稿人

12th , 14th , 16th, 17th IEEE Asian Test Symposium(2008) 程式委員會委員

11th , 12th , 13th, 14th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Conf.(2008), 程式委員會委員

2005，2006，2007，2008,2009 IEEE Int. Symp. On Cir. and Syst., 程式委員會委員

28th IEEE Int. Conference on Distributed Computing Systems，2008, 程式委員會委員；19th IEEE Int. Conference on Computer Communications and Networks, 2008, 程式委員會委員；8th Int. Conf. on Young Computer Scientists, 2008, 程式委員會委員；Int. Conf. on Algorithms and Architectures for Parallel Processing, 2008, 程式委員會委員；　10th IEEE Int. Conf. on High-Performance Computing and Communication, 2008, 程式委員會委員

19th IEEE Asian Test Symp.(2010), 15th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Symposium(2009), 程式委員會主席

Int. Conf. on Reliability and Safety Engineering2005 and INCRESE2006， 及INCRESE2007 指導委員會委員；IEEE Int. Workshop on RTL and High-Level Testing指導委員會委員

A keynote address at INCRESE2005(India)

已獲專利

1、向東，孫家廣，降低非掃描可測試性設計管腳開銷的方法，國家發明專利，專利號：ZL 02 1 46776.5,

2、2004.12，D. Xiang, J. Sun, M. Chen, and S. Gu, Cost-Effective Scan Architecture and a Test Application Scheme, US Patent US 6,959,426 B2, Oct. 25, 2005.D. Xiang, J. Sun, and K. Li, A New Test Point Architecture for High-Quality Testability Design, US Patent,US 7,051,302 B2 , May 23, 2006.

3、向東，孫家廣，李開偉 基於掃描森林的掃描測試方法， 國家發明專利，ZL02159931.9， (2006.8)

4、向東，孫家廣，李開偉， 構造無故障禁止奇偶測試的掃描鏈和掃描森林的方法，國家發明專利，ZL 200410009678.2 (申請時間：2004.10.15，授權日期：2006.10.4)。

5、向東，孫家廣，陳明靜，採用加權掃描選通信號的掃描自測試結構，ZL2005100113820.9， 2008.6.18.

6、向東，孫家廣，李開偉, 構造具有低測試功耗的兩級掃描結構，ZL200410088881.3, 2008.6

7、D. Xiang, J. Sun, and M. Chen, Scan-based self-test structure and method using weighted scan enable signals，US Patent, US7,526,696 B2, Apr. 2009.

8、向東，李開偉，路徑延遲故障測試壓縮及裝置，國家發明專利，ZL200810056676.7, 2010.1.20.

9、向東，趙陽， 一種路徑延遲故障模擬方法及裝置,專利號: ZL200810057433.5, 2010.9.

10、向東，趙陽，一種確定自測試數據壓縮及裝置, ZL2008 1 0057431.6, 2010.9.

獲獎記錄

2004: 國家傑出青年基金。