人物簡介
俞志中，現任職於上海市計量測試技術研究院。
人物成就
撰有《火花源質譜分析定量計算方法》、《第二次全國質譜學會議資料選編》( 原子能出版社1982年)；《光學干涉法測量外延薄膜層厚度》，《理化檢驗》(物理分冊)197 9年第4期；《上海金屬》(有色分冊)1984年第5期。《Cr20Mn10Ni4Si3N鋼的ESCA和 AES研究 》(儀器儀表學報)1983年第1期。入選國際會議的論文有《用AES研究Cu2S?/CdS太陽電池中S 、Cd、Cu元素的擴散》國際再生能源專題討論會，巴基斯坦，拉烏爾1983年3月22日，《PbO2 ?/MnO2?Semiconducting Thin Film Technology and its ESCA / AES Study 》 The 4 th International Microelectronics Conference May 28-30，1986，日本神戶，《A Modi fied TLMM Tnin Film Capacitor With Doped PbO2?》35th ECC May 20-22，1985，美國 華盛頓。另外，還涉足於電鍍耐腐蝕的Ni-P-La三元非晶態合金、鋼鐵鍍鋅後的特殊鈍化、 不鏽鋼清洗鈍化、鋼鐵除銹、鋼鐵漆前防鏽、鋼鐵滲鋁等工藝。
