基本信息
| 陳濤 著 | |
| 科學出版社 | 2012年6月出版 |
| 定價：59.00 | 語種：中文 |
| 標準書號：978-7-03-034922-4 | 裝幀：平裝 |
| 版本：第一版 | 開本：B5 |
| 責任編輯：韓鵬 | 字數：155千字 |
| 讀者對象：研究生以上文化程度 | 頁數：123 |
| 書類：理論專著/研究生教育 | 冊/包： |
| 編輯部： 科學資環分社 | |
內容簡介
該書介紹黏土礦物以及層狀矽酸鹽礦物進行微結構研究的實驗方法和實驗技術，詳述高分辨透射電鏡在層狀矽酸鹽中的實驗技術。針對黏土礦物中最廣泛分布的伊利石，闡述利用透射電鏡和X射線衍射對伊利石微結構進行研究的一些新發現。該書敘述了利用高分辨透射電鏡這一先進的現代測試技術對伊利石中存在的層間堆垛結構、多型結構、單元層間和單元層內缺陷結構、混層結構以及近雙晶結構進行分析和研究的方法。這些新的晶體結構現象只能通過高分辨透射電鏡才能觀察和發現。該書闡述的研究方法可以借鑑到其他礦物及晶體材料的研究中。
該書可供從事礦物學、晶體學及透射電鏡研究的科研工作者及相關專業的研究生參考閱讀。
圖書目錄
前言第1章 概述
1.1 黏土礦物晶體結構
1.1.1 層狀矽酸鹽的基本晶體結構
1.1.2 層狀黏土礦物晶體結構
1.1.3 層鏈狀黏土礦物晶體結構
1.2 伊利石的晶體結構、成因及產狀
1.3 伊利石微結構研究現狀
第2章 微結構的研究方法
2.1 透射電鏡和分析電鏡
2.1.1 透射電鏡和分析電鏡的原理和用途
2.1.2 電子衍射花樣
2.1.3 高分辨電子顯微像的種類
2.1.4 伊利石獲取高分辨顯微像的入射方向
2.1.5 獲取高分辨電子顯微像時的調試注意事項
2.1.6 膠片拍攝像與CCD拍攝像的對比
2.1.7 試樣製備方法
2.2 X射線衍射分析
2.2.1 X射線衍射峰的物理學意義
2.2.2 黏土礦物鑑定的基本準則
2.2.3 黏土礦物衍射分析樣品的製備
2.3 黏土礦物的富集
2.4 XRD和HRTEM方法在微結構研究中的對比
第3章 伊利石的結晶度及粒度
3.1 伊利石的結晶度
3.1.1 伊利石結晶度與Kübler指數
3.1.2 伊利石結晶度的測量
3.2 伊利石的平均粒度計算
3.2.1 Scherrer方程
3.2.2 長城系串嶺溝組二維納米級伊利石
3.3 伊利石結晶度對成岩淺變質帶的劃分
第4章 伊利石的多型結構
4.1 雲母型層狀矽酸鹽的多型結構
4.1.1 雲母型層狀矽酸鹽的層間堆垛角度
4.1.2 雲母型層狀矽酸鹽堆垛序列的表示符號
4.1.3 雲母型層狀矽酸鹽的多型種類
4.2 雲母及伊利石多型的研究
4.2.1 雲母多型及其轉變機制
4.2.2 伊利石多型轉變研究進展
4.3 伊利石多型的高分辨結構像
4.3.1 頁岩中成岩階段的伊利石
4.3.2 1M型伊利石的近原子結構像
4.3.3 2M1型伊利石的近原子結構像
4.4 成岩帶中存在的1M型伊利石
4.5 伊利石多型的轉變順序
4.6 伊利石的層內結構調整多型轉變機制
第5章 伊利石的層間和層內結構缺陷
5.1 伊利石層間結構缺陷
5.1.1 黏土礦物的層間偏移結構
5.1.2 1M伊利石的層間偏移結構
5.1.3 層間相鄰T層產生偏移的幾種方式
5.2 伊利石層內結構缺陷
5.2.1 黏土礦物的單元層內錯動結構
5.2.2 伊利石單元層內錯動結構
5.2.3 四面體層和八面體層的畸變結構
第6章 伊利石及其混層結構
6.1 混層黏土礦物概述
6.1.1 混層黏土礦物的定義
6.1.2 混層黏土礦物的研究方法
6.2 伊利石/蒙脫石混層礦物
6.2.1 XRD分析
6.2.2 HRTEM分析
6.3 伊利石中的葉蠟石層
第7章 伊利石的近雙晶結構
7.1 近雙晶的發現
7.2 伊利石單晶和雙晶的衍射花樣
7.3 近雙晶與複合棋盤格子
7.4 具26°非結晶學鏇轉角度的伊利石近雙晶
參考文獻
附錄
