三維光學測量儀

三維光學測量儀採用國際最先進的外差式多相頻相移三維光學測量技術,達到國際先進技術水平。與傳統的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高,單次測量幅面更大(130mm到2米)、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小,而且能夠測量表面劇烈變化的工件。

 概述

隨著計算機機器視覺這一新興學科的興起和發展,用非接觸的光電方法對曲面的三維形貌進行快速測量已成為大趨勢,可以實現對各類表面進行高速三維掃描。
目前,非接觸式三維光學測量儀很多,根據感測方法不同,常用的有基於雷射掃描測量、結構光掃描測量和工業CT等的,分別代表市面上主流的三維雷射掃瞄器照相式三維掃瞄器,和CT斷層掃瞄器三座標等。

以往的測量儀器費用較高;探頭易磨損,測量速度慢;檢測一些內部元件有先天的限制,故欲求得物體真實外形則需要對探頭半徑進行補償,因此可能會導致修正誤差的問題;接觸探頭在測量時,接觸探頭的力將使探頭尖端部分與被測件之間發生局部變形而影響測量值的實際讀數;由於探頭觸發機構的慣性及時間延遲而使探頭產生超越現象,趨近速度會產生動態誤差。

三維光學測量儀採用非接觸式三維掃瞄器因其接觸性,對物體表面不會有損傷,同時相比接觸式的具有速度快,容易操作等特徵,三維雷射掃瞄器可以達到5000-10000點/秒的速度,而照相式三維掃瞄器則採用面光,速度更是達到幾秒鐘百萬個測量點,套用與實時掃描,工業檢測具有很好的優勢。
三維光學測量儀按照其原理分為兩類,一種是“照相式”,一種是“雷射式”,兩者都是非接觸式,也就是說,在掃描的時候,這兩種設備均不需要與被測物體接觸。 “雷射式”屬於較早的產品,由掃瞄器發出一束雷射光帶,光帶照射到被測物體上並在被測物體上移動時,就可以採集出物體的實際形狀。

優點

1、裝配四種可調的光源系統,不僅觀測到工件輪廓,而且,對於工件的表面形狀和高低也可以實現精準的測量。
2、使用冷光源系統,可以避免容易變形的工件在測量是因為熱變形所產生的誤差,並避免了由於碰觸引起的變形。
3、不受零件表面紋理和材質影響的高度方向的精密測量,實現真正的非接觸式的3D測量。使得微細製造的零件在測量高度、平面度及空間角度等位置關係方面成為可能,並且具有高可靠性的測量準確性和重複性;
4、工件可以隨意放置,不需找正。
5、全自動測量過程中優異的影像識別能力使得全自動測量成為可能。批量的產品數百數據可以通過按一個按鈕實現自動測量和自動輸出結果,改變傳統的依靠經驗的手動測量方式,使自動測量的重複性控制在微米級,極大程度地提高檢測水平,促進制造品質的提高。
6、測量方便,測量軟體的操作便捷性和功能的拓展性;比如自動抓邊、自動聚焦的功能使得最大程度減少了人為誤差,使得以往通過眼睛和視覺對準位置進行的粗略估算的測量方式得到質的提升。
7、可以加裝雷射、探針、轉台等感測器,實現一個坐標系下的多元感測的綜合套用,提供了複雜測量難題的解決方案。

檢測及解決方案

TN 3DOMS V3.1系統主要由複雜面形三維光學測量系統TN 3DOMS.S和特徵點拍照測量系統TN 3DOMS.FP組成,可以完成包括汽車整車等在內的大範圍高精度稠密點雲測量。
特徵點拍照測量系統(Feature Points of 3D Optical Measurement System)通過同一相機拍攝的多張像片,計算出物面上多個特徵點的三維坐標。特徵點拍照測量系統可以將全局測量誤差控制在0.02mm/m以內,除了可用於大型物件的關鍵點坐標測量,還可用於孔位,稜角的檢測。
特徵點拍照測量系統TN 3DOMS.FP是鐵牛三維光學測量系統V3.1的一個獨立的軟體系統,可與鐵牛三維光學測量系統.複雜面形測量系統TN 3DOMS.S配合使用,完成大型物面的高精度測量。
實現大物件(如整車或者車門)精確測量過程是:使用TN 3DOMS.FP獲得特徵(骨架)點,再使用TN 3DOMS.S獲得稠密點雲數據。在TN 3DOMS.S中,單次測量數據全自動拼接到骨架點上並自動融合。
TN 3DOMS.S採用經典的格林碼加相移技術,對相位解碼進行了深入研究,其測量精度高,單次測量範圍大,測量速度快,抗干擾能力強。
測量前,先用帶有“TN”標記的標定板標定兩個相機的參數,測量時,利用光柵投射器將特定的結構光投射到物體表面,利用先前標定好的相機同步採集相應圖像,然後對圖片進行解碼和相位計算,並利用立體匹配技術、三角測量原理計算出兩相機公共區域內,物體表面的三維坐標值。

三維光學測量儀三維光學測量儀

單次拍攝範圍(mm3) 300×220×100~5000*4000*3000(任意定製)
單面滿幅測量點數 130萬點~1600萬點(可定製)
單幅測量時間 2秒~30秒
拍攝距離(m) 0.5~30
測量精度 約為單幅測量範圍的1/10000
最佳重複測量精度(mm) 400×300×300幅面時達到0.002
圖像解析度(pixel) 1280×1024~4096*4096
輸出檔案格式 *asc或*dat或*.WRL或*.igs或*.stl (可定製)
作業系統 Windows NT/2000/XP
技術特點
相機調焦——半自動調焦方式,系統會自動提示圖片是否清晰。
相機標定——採用帶“TN”標記的標定板。
標記點識別——自動識別標記點,且可識別8位,12位,15位編碼標記點。
拼接功能——標記點自動拼接,且可以利用多套設備瞬間完成360°測量,且可以和3DOMS.FP(骨架點測量系統)結合,完成超大物件的測量。自動拼接模組包含重疊點雲自動刪除、自動融合和全局平差計算,所獲整體點雲精度和質量不遜色於ATOS。
距離感知——系統實時顯示被測物體到測量頭的距離,如被測物體超出最佳測量範圍,只計算在最佳測量範圍內部分。
震動感知——在投射器投射格林碼和相移光柵過程中,被測物體微動或測量空間內有物體移動,系統自動放棄此次測量。
光強感知——在投射器投射格林碼和相移光柵過程中,測量空間的光強發生明顯變化時,系統自動放棄此次測量。
點雲稀疏顯示——系統會自動根據點雲的數量選擇採樣係數對龐大稠密點雲進行稀疏顯示。

產品介紹

採用國際最先進的外差式多相頻相移三維光學測量技術,達到國際先進技術水平。與傳統的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高,單次測量幅面更大(130mm到2米)、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小,而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
產品特點
1、一機多用,可同時掃描測量小型、中型、大型工件。
2、面掃描測量數據密集。
3、攜帶型流動測量。
4、強大的自動拼接。
5、測量掃描速度快。
6、雷射指示器測距。

三維光學密集點雲測量儀三維光學密集點雲測量儀

技術參數
具體型號 POS-Ⅰ
工業相機 兩個130萬像素
單幅面(mm) 130*100-400*300
檢測範圍 5mm-90m
套用領域
POS三維光學密集點雲測量系統廣泛套用於汽車工業、飛機工業、機械製造、模具設計、家電等製造行業的逆向設計、產品質量檢測、尺寸檢測、變形分析。
附屬檔案
工業相機、升降支架、計算機等

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