X射線晶體分析儀

( θ 1

用途:
照相:利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射光束的方向來測量未知晶體單位晶胞的的形狀和大小,以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。
定向:對晶體材料進行精確測角定向,利用X射線通過前置單色器,衍射線被單色化後照射到樣品上,符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射,被計數管接收放大,通過表顯示強度,測角儀讀出準確角度值。
主要參數
電 源
AC220V 50HZ 30A
功 率
2KW
靶 材
Cu
管電壓
50KV (連續可調)
管電流
50mA (連續可調)
制 冷
循環水、製冷水箱
防 護
鉛有機玻璃防護罩
照 相
相 機
背反勞厄相機
相方
自動定時(倒計時)
定時時間
( 1 秒~ 9999 秒)
定 向
方 式
高精度(前置單色器)
測角範圍
θ 10 °~ 50 °、 2 θ 10 °~ 100 °
顯示器
數字顯示,度、分、秒
顯示精度
1 ″
光 閘
腳踏電磁光閘
解析度
± 15 ″(優於)

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