照相:利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射光束的方向來測量未知晶體單位晶胞的的形狀和大小,以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。
定向:對晶體材料進行精確測角定向,利用X射線通過前置單色器,衍射線被單色化後照射到樣品上,符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射,被計數管接收放大,通過表顯示強度,測角儀讀出準確角度值。
( θ 1
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為...
螢光分析 基本介紹 基本原理 儀器分類 選型誤區X射線應力分析儀,可以方便測量材料中的殘留應力,是材料評價的好幫手。
儀器簡介 產品特點 產品參數製成了一台波長色散的X射線螢光分析儀,此法才開始發展起來。此後,隨著X...儀器也有顯著的區別。 X射線螢光分析儀按其性能和套用範圍,可分為實驗室用的X射線螢光光譜儀和能譜儀、小型攜帶型X射線螢光分析儀及工業上的專用...
X射線螢光光譜分析法 正文 配圖 相關連線X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次...
基本介紹 基本原理 儀器分類 選型誤區 方法特點X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線螢光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線...
介紹 原理及特點 發展歷程的。 分類 根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀...的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分...原理利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生螢光...
原理 分類 優缺點晶體分析儀是一種儀器設備,主要用於研究物質內部微觀結構。如:單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘餘應力等。
X射線光譜分析概述 X射線螢光光譜分析 質子激發X射線光譜分析
基本信息 內容簡介 目錄《X射線螢光光譜分析》是2003年科學出版社出版的圖書,作者是吉昂。
出版信息 目錄 原理 分類 優缺點