層析 γ 掃描 (Tomographic gamma scanning,TGS) 技術是 20 世紀 90 年代末 Estep 等將CT(Computed Tomography)成像技術套用到無損分析(Non-Destructive-Assay)技術中而形成的一種測量技術，主要分透射測量和發射測量。透射測量時，把被測樣品劃分成若干小體素，認為每個體素內介質的線性衰減係數相同。用探測器測得射線經過樣品的透射率，從而重建出透射圖像，得出各個體素的線性衰減係數。發射測量，則得到放射性強度分布圖，再利用透射測量得到的各體素的線性衰減係數，對發射測量圖像進行逐點自吸收修正，大大提高非均勻樣品中放射性含量的測量準確度。可見，透射圖像重建的準確度直接決定了 TGS 技術測量非均勻樣品中放射性含量的準確度，因此，透射圖像重建是 TGS 技術測量非均勻樣品中放射性含量的基礎和關鍵，是 TGS 測量技術的核心。
