出版時間：2011-4-1
版 次：1頁 數：294字 數：500000印刷時間：2011-4-1開 本：16開紙 張：膠版紙印 次：1I S B N：9787121132070包 裝：平裝
內容簡介
本書是Steven H. Voldman教授所著的《ESD RF Technology and Circuits》的中文翻譯版，全書系統地介紹了射頻ESD設計的基礎知識及概念；射頻ESD設計合成及方法論的細節，如代換、消除等射頻ESD設計方法和阻抗隔離等ESD技術；RF CMOS ESD 保護元件，並分別從射頻和ESD的角度對靜電防護策略上的異同進行了比較；RF CMOS靜電防護電路；ESD和雙極工藝；鍺矽半導體、碳鍺矽和靜電防護；砷化鎵、銦鎵砷及其靜電防護技術；雙極?路及其靜電防護；靜電防護設計方法；非半導體類的靜電防護解決方案以及晶片外的靜電保護技術與觀念。
目錄
第1章 射頻設計和ESD
1.1 ESD設計的基本概念
1.2 射頻ESD的基本概念
1.3 射頻ESD的主要成果
1.4 射頻ESD的關鍵專利
1.5 ESD失效機制
1.5.1 射頻CMOS ESD失效機制
1.5.2 鍺矽器件的ESD失效機制
1.5.3 矽鍺碳器件的ESD失效機制
1.5.4 砷化鎵技術ESD失效機制
1.5.5 銦鎵砷ESD失效機制
1.5.6 射頻雙極型電路ESD失效機制
1.6 射頻基礎
1.7 雙連線埠網路參數
1.7.1 Z參數
1.7.2 Y參數
1.7.3 S參數
1.7.4 T參數
1.8 穩定性：射頻設計穩定性與ESD
1.9 器件性能退化和ESD失效
1.9.1 ESD導致的直流參數漂移和失效標準
1.9.2 射頻參數、ESD退化以及失效標準
1.10 射頻esd測試
1.10.1 ESD測試模型
1.10.2 射頻最大功率失效和ESD脈衝測試方法
1.10.3 ESD導致的射頻退化和S參數評估測試方法
1.11 ESD測試中時域反射計（TDR）和阻抗方法學
1.11.1 時域反射（TDR）ESD測試系統評估
1.11.2 ESD退化系統級方法——眼圖測試
1.12 產品級ESD測試和射頻功能性參數失效
1.13 組合射頻和ESD TLP測試系統
1.14 小結
習題
參考文獻
第2章 射頻ESD設計
2.1 ESD設計方法：理想ESD網路和射頻ESD設計視窗
2.1.1 理想ESD網路和電流-電壓直流設計視窗
2.1.2 理想ESD網路頻域設計視窗
2.2 射頻ESD設計方法：線性法
2.3 射頻ESD設?：無源元件品質因數和品質因素
2.4 射頻ESD設計方法：替代法
2.4.1 無源器件替代ESD網路器件法
2.4.2 ESD網路元件替代為無源元件
2.5 射頻ESD設計方法：匹配網路和射頻ESD網路
2.5.1 射頻ESD方法：匹配網路轉換為ESD網路
2.5.2 射頻ESD方法：ESD網路轉換為匹配網路
2.6 射頻ESD設計方法：電感分流器
2.7 射頻ESD 設計方法：消除法
2.7.1 品質因數和消除法
2.7.2 電容負載的感性消除和FOM
2.7.3 消除法和ESD電路
?2.8 射頻ESD設計方法：利用LC共振的阻抗隔離技術
2.9 射頻ESD設計方法：集總與分散式負載
2.9.1 射頻ESD共面波導的分布負載
2.9.2 利用ABCD 矩陣進行射頻ESD共面波導分布負載分析
2.10 ESD射頻設計綜合和平面圖：射頻、模擬和數字綜合
2.10.1 同一區域ESD電源鉗位（Power Clamp）的布置
2.10.2 電源線的結構和ESD設計綜合
2.10.3 VDD到VSS電源線的保護
2.10.4 VDD到模擬VDD和VDD到射頻VCC的保護
2.10.5 內部ESD 保護網路
2.11?ESD電路和射頻焊盤整合
2.12 鍵合線焊盤下的ESD結構
2.13 小結
習題
參考文獻
第3章 射頻CMOS和ESD
第4章 射頻CMOS ESD網路
第5章 雙極型電晶體物理特性
第6章 鍺矽和ESD
第7章 砷化鎵工藝中的ESD
第8章 雙極型電晶體接收機電路與ESD網路
第9章 射頻和ESD計算機輔助設計
第10章 可替代ESD概念：片上和片外ESD保護解決方案
參考文獻
名詞術語
