CCD平面度測試儀概述
CCD平面度測試儀特點
檢測精度達到0.01mm以上；
可選擇局部掃描功能，提高檢測速度；
操作界面清晰明了，簡單易行，只需簡單設定即可自動執行檢測；
檢測軟體及算法完全自主開發，採用亞像素技術實現超高的檢測精度；
可靈活設定模板查找、平均灰度值檢測等多種檢測算法；
專業化光源設計，成像清晰均勻，確保不形成光斑；
支持多種IC產品的檢測、具備產品線上自動搜尋等功能；
安裝簡單，不影響原生產線工作；結構緊湊，易於操作、維護和擴充；
可靠性高，運行穩定，適合各種現場運行條件。
基於PC平台，系統可擴充性強，基於EF-VS機器視覺軟體平台可擴展管腳測量等功能，也可外接SPC軟體。
技術規格
可以直接電視機或電腦上觀察實物圖像。
1.物鏡變倍範圍： 0.7--4.5X
2.變倍比： 6.5：1
3.移動工作距離： 200mm
4.台面尺寸: 390×160(mm)
5.總放大倍數： 7—450X (以21寸電視機，2X倍的大物鏡為例)
CCD平面度測試儀的功能
檢測針腳的個數；
可測量晶片針腳的多個位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；
檢測針腳的共線度等平面度指標；
系統檢測到質量問題時，能發出報警信號，並輸出控制信號；
可對檢查出的所有廢品對應的圖像能夠存儲和查看；
系統有自學習功能，且學習過程操作簡單；
系統可通過RS232或乙太網接收上位機控制信號。
