雷射粒度分布儀

雷射粒度分布儀

分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,它採用進口半導體雷射器,壽命長,單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子積體電路技術。

由來

雷射粒度分布儀 雷射粒度分布儀

高靈敏度的光電池接收系統,全程米氏理論作為

基礎,結合優異的計算方法。使測試數據更加精確,快捷;是目前國內比較經濟實用的一款雷射粒度分布

儀。

產品特點

(1)功能強大的軟體系統

M314030型雷射粒度分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科

技產品,數據處理有專用的計算機分析系統軟體完成,同時由印表機完成測

試報告的輸出。

(2)獨特的光路一體化技術

最佳化的反傅立葉光學變換設計,結合獨特的光路一體化結構,使光路更

加穩定,長期使用,無須調整;先進的機械設計與加工工藝,使儀器的結構

更緊湊合理;流線型的設計,美觀大方,使用與維護更為方便;有效的禁止

與抗干擾技術,使儀器的電氣等性能更加穩定 。

(3)高靈敏大角度光電接收器陣列

獨特的光電接收器陣列設計,有效提高了儀器的解析度。主向光電接收器,共有71個光電池,最大探測角達21.5°;

非均勻交叉排列的側向光電接收器,共5個光電池,其中,最大側向角度達75°。

(4)長久耐用

採用波長635nm,功率3mw半導全雷射器,使用壽命在25000個小時以上有效提高了雷射粒度分布儀的使用和存放時間。

(5)優秀的H.Golub分布反演算法

HYL系列雷射粒度測試系統完全採用先進的全Mie散射理論作為基礎,並採用優良的H.Golub分布反演算法,結合獨

特的儀器硬體設計,使您測試的樣品無論是單分布的,還是混合的,都能夠使測試數據更加精確、快捷。

(6)輸出結果格式靈活

報告單格式的輸出格式靈活,可根據使用者的需要,編輯包括累計粒度分布數據與曲線、區間粒度分布數據與直方圖

和各種典型粒徑值等內容。

(7)符合國際標準ISO13320-1

為了滿足用戶對測試結果的準確性及重複性等可追蹤性的要求, HYL系

列雷射粒度分布儀完全符合ISO13320-1國際標準。每台雷射粒度儀都嚴格經

國家標準物質的檢驗,各項指標完全合格後方可投入市場。

技術參數

測試範圍:0.1μm~500μm

光 源:半導體雷射器(波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上)

測試方式:濕法測試

樣品濃度:0.5‰~1%(與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關)

測試時間:少於1分鐘/次,不含樣品分散時間

掃描速度:2000次/秒

重複性誤差:≦1%

電源:交流220V±10%50Hz或60Hz,功率:80W

微機接口:標準 RS-232串列接口

作業系統:可在Windows所有版本的作業系統下運行

標準物質對照

樣品編號 標準值(微米) 測量值(微米) 測量值2(微米) 標準值(微米) 測量值1(微米) 測量值2(微米)
粒度 19.1±1.47 19.19 19.31 2.54 2.65
D10 22.8±1.53 22.9 22.87 3.60±2.1 3.65 3.7
D16 27.0±1.80 27.46 27.66 4.80±1.5 4.69 4.71
D25 36.7±1.57 36.95 36.75 6.80±0.6 6.79 6.81
D50 44.5±1.95 45.13 45.33 9.00±1.2 9.18 9.22
D75,D84 48.9±2.73 48.36 48.42 10.50±2.1 10.45 10.56
D90 53.1±3.54 54.55 54.3 11.76 11.8

尺寸規格

620*330*248

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