測量原理
雷射物位計也稱雷射料位計由半導體雷射器發射連續或高速脈衝雷射束,雷射束遇到被測物體表面進行反射,光線返回由雷射接收器接收。並精確記錄精光自發射到接收之間的時間差,從而確定從激光雷達到被測物之間的距離。
距離物料表面的距離D 與脈衝的時間行程T 成正比:
D=C×T/2 其中C 為光速
因空罐的距離E 已知,則物位L 為:
L=E-D
根據用戶設定的量程和滿度信息,處理器計算出當前料位的百分比,然後按照比
例輸出4-20mA 或0-5V 等模擬信號、RS485Modbus的數位訊號、警示報警繼電器開關信號等。
根據測量時間方法的不同,雷射雷達物位計可分為脈衝式和相位式兩種測量形式,
優缺點
優點:
測量光束髮散角小、方向性好
量程大、測距遠、盲點最少
不受介質溫度影響。不受溫度變化影響
非插入式測量,非接觸測量。
測量速度快,適合變化快的液位及料位測量
操作簡單,可程式測量。
測量精確、高精度適合高要求項目
解析度高出一般儀表十倍
波束角小,適合長距離定位,避免障礙物
缺點:
易受測試波段光源干擾、深色被測物吸收
價位高
套用場合
液態瀝青、
聚合反應堆容器(高壓)、
反應堆容器(真空)、
熔融態玻璃
黑色及有色金屬、
合金聚苯乙烯、尼龍、聚氯乙稀等芯塊、
滑石粉或石灰粉、礦石
放礦溜井裡的廢石、濕或乾木屑
採礦,化工,製藥,造紙,
塑膠,油氣等高風險區域