雷射平面干涉儀

雷射平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用於精密測量光學平面度。儀器配有雷射光源(波長為632.8nm) 。

是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用於精密測量光學平面度。

PG30-JE(歐卡光學)

雷射平面干涉儀工作時對防震要求一般。該儀器可套用於光學車間、實驗室、計量室。如配購相關的必要附屬檔案，可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性，光學鍍膜面或金屬塊規表面的平面度，90o稜角的直角誤差及角錐稜鏡單角和綜合誤差。