離子光學儀器

質譜儀主要由離子源、分析器、檢測器三部分組成。 分析器的作用是將離子源中射出的離子束按質荷比進行分析，是質譜儀的核心部分。 對有機質譜進行定性和結構分析。

質譜儀是基於對物質的原子、分子直接進行質量測定，從而確定其同位素、元素、化合物的組成及結構信息的儀器。以其高準確度和靈敏度（最高檢測限可達10-22 g）廣泛用於科研及工業、農業、醫藥衛生、體育、環保、刑事偵破、國防等各個部門和物理、化學、生物等領域。
質譜儀主要由離子源、分析器、檢測器三部分組成。
離子源的作用是將待測得中性物質變成帶電的正負離子，並在其中實現離子束的聚焦和加速。分析器的作用是將離子源中射出的離子束按質荷比進行分析，是質譜儀的核心部分。檢測器的作用事接受由分析器已按質荷比分離的離子流，用倍增器和放大器放大變成電信號進入資料庫系統處理作為質譜峰強度信號（Y軸），再結合磁掃描或電掃描作質量刻度（X軸），從而得到該物質的完整質譜圖。
0210 有機質譜
對有機質譜進行定性和結構分析。在農藥、化工、石油、環保、生物、食品、商檢、法庭醫學等部門的科研、監測及生產流程控制，使用及為廣泛。
在有機質譜方面值得提出的是將質譜儀與其它分析儀器的聯用。色譜與質譜的聯用又分氣相色譜與質譜的聯用（GC/MS）和液相色譜與質譜的聯用（LC/MS），它們既發揮了色譜的高分離能力，又發揮了質譜檢測、鑑定準確的能力，從而是多組分混合有機化合物分析的最佳選擇。質譜與質譜來的聯用則是由多級質譜組成，有點事對混合物不必經GC或LC分離，而是由前級質譜選擇各個組份的特徵離子，進入後級質譜進行分析。
0220 無機質譜
對固體中元素特別是微量元素含量進行測定。如金屬、合金和半導體中雜質量測定和地址樣品分析。採用儀器大致有三種火花源固體雙聚焦質譜，電感耦合電漿（ICP）質譜及離子探針質譜（其中ICP-MS是將樣品先處理成溶液）。
0230 同位素質譜
對元素的各同位素豐度比進行精確測定，同位素比測量精度高達百分之一。主要用於地址地球化學和原子能工業。還可以進行土壤化學，植物營養，微生物和土壤生物化學研究，也可以用於醫療和體育醫療作呼吸質譜，以及用於空間科學。
0240 離子探針
無機質譜的一種，也叫二次離子質譜或離子探針（SIMS）是一種元素分析技術，通過分析離子束轟擊樣品表面濺射出的二次離子的質譜，來實現高靈敏分析的技術，是分析固體材料中微量、痕量元素的有力工具。廣泛套用電子、冶金、地質、環保科學等領域。
原理是當具有幾個KEV能量的離子，即一次離子經過聚焦，穩定地轟擊樣品表面時、進入質譜儀；質譜儀將具有相同動能；不同質荷比的二次離子區分開，再由二次離子檢測系統接收檢測，這樣可以提供對應於某一時刻的新鮮表面的多種元素的數據，也可以提供表面某一元素的分布的二維離子像。