人物經歷
1985年4月至1986年11月公派赴美國KEYTECH公司進行科技合作,
多次率考察團赴美國、日本、俄羅斯、烏克蘭、白俄羅斯、香港和歐洲考察。
學術兼職有中國電子學會電子儀器專業委員會常委,自動測試與控制分會主任委員,中國計量學會計量測試專業委員會委員,中國計算機學會容錯計算專業委員會委員,全國ICCAT專家委員會委員,全國工科電子類教學指導委員會電子測試技術委員會主任委員,多所大學兼職教授等。
研究方向
多年來,在現代測試理論、計算機輔助測試(CAT)、數據域測試、VLSI測試理論及方法、故障診斷技術與可測性設計、專家系統以及測試系統結構體系(VXI)等進行了卓有成效的研究工作。
主要貢獻
曾擔任“VLSI測試理論與方法”課題“八五”國家攻關組組長。共完成國家及部省級科研項目26項,其中15項獲國防科工委、部省級科技進步獎。編寫出版專著和教材8部,公開發表學術論文100餘篇,多篇論文被國際檢索機構檢索。 已培養博士17名,碩士50餘名。目前,在讀博士研究生19名,碩士研究生15名。
獲獎記錄
“數據域測試及儀器(第二版)”1995年獲全國電子類優秀教材一等獎,