鏡後膠平面測光

鏡後膠平面測光，使用技術相機專配的測光探桿在後框膠片平面的位置上，用點測光法直接量得到達膠片的光線。

技術相機更嚴謹科學的測試方式是鏡後膠平面測光（ＴＴＬ模式），即使用技術相機專配的測光探桿在後框膠片平面的位置上，用點測光法直接量得到達膠片的光線。
優點主要有：
①測讀的已經是最終到達膠片的曝光量，不需要考慮曝光延長因素去進行曝光補償計算。
②可以按所需要的測光點或區域去決定拍攝主體的曝光量，強化了測光上的主觀取捨，使曝光測量更為精確。
③可以控制景物的亮度反差，以確保適合印刷要求的影像階調。