金銀檢測儀

金銀檢測儀

金銀檢測儀是一種利用能量散射型X射線螢光分析技術(XRF)的智慧型化無損檢測儀器,能準確的檢測出黃金、鉑金、鈀金、K金、K白金等飾品中各種元素含量.相比而言,它具有無法比擬的優越性。EXF系列貴金屬檢測儀採用多道分析器 ,同時套用解譜技術,以譜圖形式為您精準而形象地呈現飾品中金、鉑、鈀、銀、銠、銅、鋅、鎳等眾多元素的含量及其比例。

原理分析

X-射線是以一種電磁輻射的形式存在。和可見光一樣,而其能量卻是後者的5000倍或更大。如同可見光,X-射線是由原子內部所產生的,與光不同之處為他們發自於軌域的最內部。此類的射線稱之為X-射線螢光輻射,其能量依不同的發射物質而定。

原子是由原子核及包圍它的電子構成,電子的數目與構成核子的帶正電質子數目相同,從外表看來,原子在電管上為中性,電子在核外依一定的軌道運行,軌道中最靠近原子核的稱為K軌道,順次往外的軌道為L,M,N等軌道,若將一個電子從原子中移開,則一定花費一定的能量。此種能量是愈近原子核所需的能量愈大。為了說明此點可由能階圖表示。

若一個電子由軌道游離,則其他能階的電子會自然的跳至他的位置,以達到穩定的狀態,此種不同能階轉換的過程可釋放出能量,即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同,所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。

下述可描述X-射線螢光的特性:若產生X-射線螢光是由於轉移一個電子進入K 軌道,一個K軌道上的電子已事先被游離,另一個電子即代替他的地位,此稱之為K 輻射。不同的能階轉換出不同的能量,如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射,而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射,其間是有區別的。若X-射線螢光是一個電子跳入L的空軌域,此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射,此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射,此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由於Kβ輻射能量約為Kα的11%,而Lβ輻射能量較Lα大約20%,所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。

原子的特性由原子序來決定,亦即質子的數目或軌道中電子的數目,即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關係。K輻射較L輻射能量高很多,而不同的原子序也會造成不同的能量差。

特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器後,即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈衝高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其後的鑑別電路記錄。

使用X-射線螢光原理測厚,將被測物置於儀器中,使待測部位受到X-射線的照射。此時,特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生,而檢測系統將其轉換為成比例的電信號,且由儀器記錄下來,測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。

套用領域

1、首飾加工廠

2、金銀珠寶首飾店

3、貴金屬冶煉廠

4、質量檢驗部門

5、分析測試中心

6、典當行

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