簡介
TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率，可用於實時線上檢測，實現產品全檢。適用於稜鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
技術參數
軟體設計
l 智慧型化軟體操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據，自動調整顯示坐標範圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
l 譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，最大程度地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設定判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
l 譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件資料庫，可根據資料庫已存標準數據對比分析結果，用戶可自行對資料庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數據導入Excel有利於進一步對譜圖進行分析和研究。
l CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
l 數據報告列印功能:可快速批量列印樣品測量數據及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。
