內容介紹
《變分分析與廣義微分1:基礎理論》是現代變分分析創始人之一的美國州立Wayne大學Boris S.Mordukhovich教授的最新專著，涵蓋了無窮維空間中變分分析的最新成果及其套用。第1章系統介紹了一般Banach空間中的廣義微分理論；第2章細緻研究了變分分析中的“極點原理”，它是《變分分析與廣義微分1:基礎理論》和無窮維變分分析的主要工具；第3章是Mordukhovich廣義微分理論的基石，它涵蓋了Asplund空間中基本法錐、次梯度和上導數的完備分析法則；第4章研究集值映射的Lipschitz性質、度量正則性和線性開性／覆蓋性及其在參數約束和變分系統靈敏性分析上的套用。《變分分析與廣義微分1:基礎理論》主要面向非線性分析、最最佳化、均衡、控制和對策論、泛函微分方程和數理經濟等專業的高年級本科生和研究生，也可供運籌學、系統分析、力學、工程和經濟學中涉及變分法的研究人員和工程技術人員參考。
作品目錄
《變分分析與廣義微分i:基礎理論》譯者序
前言
致謝
第1章banach空間中的廣義微分
1.1非凸集合的廣義法向量
1.1.1基本定義和一些性質
1.1.2切向逼近
1.1.3廣義法向量的分析法則
1.1.4集合的序列法緊性
1.1.5變分描述和極小性
1.2集值映射的上導數
1.2.1基本定義和表示
1.2.2lipschitz性質
1.2.3度量正則性和覆蓋
1.2.4banach空間中上導數的分析法則
1.2.5映射的序列法緊性
1.3非光滑函式的次微分
1.3.1基本定義和關係
1.3.2frechet類型的卜次梯度及其極限表示
.1.3.3距離函式的次微分
1.3.4banach空間中的次微分分析法則
1.3.5二階次微分
1.4第1章評註
1.4.1非光滑分析的動因和早期發展
1.4.2切向量和方嚮導數
1.4.3 clarke結構和相關發展
1.4.4避免凸性的動因
1.4.5基本法向量和次梯度
1.4.6類frechet表示
1.4.7近似次微分
1.4.8進一步的歷史評註
1.4.9非凸性的優點
1.4.10主要課題和貢獻者清單
1.4.11banach空間中的廣義法向量
1.4.12集值映射的導數和上導數
1.4.13lipschitz性質
1.4.14度量正則性和線性開性
1.4.15banach空間中的上導數分析法則
1.4.16增廣實值函式的次梯度
1.4.17距離函式的次梯度
1.4.18banach空間中的次微分分析法則
1.4.19階廣義微分
1.4.20banach空間中的二階次微分分析法則
第2章變分分析中的極點原理
2.1集合極點和非凸分離
2.1.1集合極點系統
2.1.2極點原理的不同版本與支撐性質
2.1.3有限維空間裡的極點原理
2.2asplund空間中的極點原理
2.2.1光滑空間中的近似極點原理
2.2.2可分約化
2.2.3asplund空間的極點刻畫
2.3與變分原理的關係
2.3.1 ekeland變分原理
2.3.2次微分變分原理
2.3.3光滑變分原理
2.4asplund空間中的表示與刻畫
2.4.1asplund空間裡的次導數、法向量和上導數
2.4.2圖與上圖的奇異次導數和水平法向量的表示
2.5banach空間中極點原理的各種版本
2.5.1公理化的法錐與次微分結構
2.5.2具體的法錐和次微分結構
2.5.3極點原理的抽象版本
2.6第2章評註
2.6.1極點原理的由來
2.6.2fr~chet光滑空間中的極點原理與可分約化
2.6.3asplund空間
2.6.4asplund空間上的極點原理
2.6.5 ekeland變分原理
2.6.6次微分變分原理
2.6.7光滑變分原理
2.6.8asplund空間中極限法向量和次導數的表示
2.6.9其他次微分結構和極點原理的抽象版本
第3章asplund空間中的完備分析法則
3.1法向量和上導數的分析法則
3.1.1法錐的分析法則
3.1.2上導數的分析法則
3.1.3嚴格lipschitz性質和上導數標量化
3.2次微分分析法則和相關課題
3.2.1基本和奇異次梯度的分析法則
3.2.2近似中值定理及其套用
3.2.3與其他次微分的關係
3.2.4lipschitz映射的圖正則性
3.2.5二階次微分分析法則
3.3集合與映射的snc分析法則
3.3.1交集與逆像的序列法緊性
3.3.2映射的和及相關運算的序列法緊性
3.3.3映射複合的序列法緊性
3.4第3章評註
3.4.1分析法則的關鍵作用
3.4.2廣義微分分析法則的對偶空間幾何方法
3.4.3無限維空間中的法緊性條件
3.4.4基本法向量的分析法則
3.4.5完整的上導數分析法則
3.4.6無限維空間中映射的嚴格lipschitz性質
3.4.7完整次微分分析法則
3.4.8中值定理
3.4.9與其他法向量和次梯度的聯繫
3.4.10lipschitz映射的圖正則性和可微性
3.4.11asplund空間中二階次微分分析法則
3.4.12asplund空間中關於集合和映射的snc分析法則
第4章適定性的刻畫與靈敏性分析
4.1鄰域判據與確切界限
4.1.1覆蓋的鄰域刻畫
4.1.2度量正則性和lipschitz特性的鄰域刻畫
4.2點基刻畫.
4.2.1lipschitz性質的基本與混合上導數表述
4.2.2覆蓋和度量正則的點基刻畫
4.2.3擾動下的度量正則性
4.3約束系統的靈敏性分析
4.3.1參數約束系統的上導數
4.3.2約束系統的lipschitz穩定性
4.4變分系統的靈敏性分析
4.4.1參數變分系統的上導數
4.4.2lipschitz穩定性的上導數分析
4.4.3正常擾動下的lipschitz穩定性
4.5第4章評註
4.5.1度量正則和相關性質的變分方法
4.5.2覆蓋和度量正則的第一個刻畫
4.5.3對偶空間和本原空間的鄰域判據
4.5.4lipschitz魯棒性質的點基上導數刻畫
4.5.5無限維中涉及部分法緊性質的點基判據
4.5.6lipschitz性質和度量正則性在複合運算下的保持
4.5.7擾動下的良好性態
4.5.8基於廣義微分學的參數約束系統靈敏性分析
4.5.9廣義方程與變分條件
4.5.10廣義方程和變分不等式的lipschitz魯棒穩定性
4.5.11強逼近和正常擾動
參考文獻
陳述表
記號表
索引
