納米顆粒測定儀器

一、概述

納米顆粒測定儀器，採用介電電泳原理，介電電泳ON時，形成部分的高（低）粒子濃度；介電電泳OFF時，粒子擴散恢復為原始狀態；由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散後的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散係數，進而得到粒子的粒徑。

二、主要特點

單納米粒子的高靈敏度分析；

極高的抗污染能力；
良好的重現性。

三、技術參數

測定原理	​	誘導衍射光柵法
測量範圍	​	0.5~300μL
測定時間	​	30秒(從開始測定到得到結果)
測定單元	光源	半導體雷射(波長785nm,輸出3mW)
測定單元	檢測器	光電二極體
測定單元	檢測池	批式池
輸出端子	​	串口輸出
工作環境	​	溫度範圍：15℃~35℃
工作環境	​	濕度範圍:20%~80%(不結露)
電源	​	AC 230V±10%,50/60Hz
尺寸與重量	​	寬60cm,深40cm,高20cm,重15g
PC OS要求	​	Windows Vista 或Windows XP