內容簡介
全書分上下篇,上篇主要介紹了數字VLSI結構化測試方法、數模混合信號電路測試方法、設計驗證技術和積體電路測試標準等內容,下篇重點介紹了數字/模擬/數模混合信號等三種類型積體電路測試系統和積體電路測試驗證系統等內容,並特別關注了以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類別測試系統和基於標準匯流排積體電路測試系統的發展,《現代積體電路測試技術》可作為從事微電子測試和設計工作的研究人員、技術人員,以及準備進入該領域的管理人員的學習和培訓教材,也可作為高等院校相關專業師生的教材和參考書。
全書按積體電路測試原理和積體電路測試設備劃分為上、下篇。根據現代積體電路測試技術發展和專業測試需求,上篇主要介紹數字VLSI結構化測試方法、數模混合信號電路測試方法、設計驗證技術和積體電路測試標準;下篇重點介紹數字/模擬/數模混合信號等三種類型積體電路測試系統和積體電路測試驗證系統,同時特別關注了以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類別測試系統和基於標準匯流排積體電路測試系統的發展,並安排了測試系統計量和自動分選機/探針測試台兩個專題。
目錄信息
上篇積體電路測試原理
第1章概述
11測試的意義
12測試的分類
13測試成本與產品質量
參考文獻
第2章邏輯模擬與故障模擬
21電路模型及簡單的結構分析
22信號狀態模型
23定時模型
24故障模型及故障精簡
25故障效應的傳播
26邏輯模擬算法
27故障模擬算法
28時序電路的邏輯模擬和故障模擬
參考文獻
第3章可測性度量
31可測性度量的基本概念
32可測性的度量
參考文獻
第4章測試生成
41測試生成方法分類
42測試生成算法中的一些基本概念和技術
43單路徑敏化法
44D算法
459值算法
46PODEM算法
47FAN算法
48布爾差分法
49布爾滿足法
410面向電路的測試生成方法
411組合ATPG算法研究進展
412時序電路測試生成
4 13高層設計的測試生成
414測試生成系統
參考文獻
第5章可測性設計方法和技術
51可測性設計的基本概念
52專門的可測性設計方法
53基於掃描的可測性設計技術
54全速測試和全速掃描測試技術
55特徵分析測試方法簡介及內建自測試
56邊界掃描設計技術
57可測性設計規則綜述
參考文獻
第6章設計驗證技術
61設計驗證技術基本概念
62設計的模擬驗證
63設計的形式驗證和斷言驗證
64設計驗證輔助功能測試向量的製成
65現代數字積體電路晶片設計驗證的語言
參考文獻
第7章測試數據壓縮技術
71測試數據壓縮的緣由、特點和方法概述
72Huffman編碼
73遊程編碼的方法
74Golomb碼的數學基礎和數據壓縮
75快速編碼的優勢和特點
76二維壓縮編碼方法的基本實踐
77數據壓縮的硬體實施方法和措施
參考文獻
第8章測試開發系統
81測試語言
82測試程式
83測試開發環境
84測試轉換系統
85測試設備脫機開發環境
參考文獻
第9章混合信號積體電路測試
91概況
92採樣理論
93基於DSP的測試
94基於模型的測試
95DAC測試
96ADC測試
97混合信號DFT和BIST
參考文獻
第10章IDDQ測試
101IDDQ基本原理
102IDDQ測試生成
103IDDQ可測性設計
104IDDQ監控器設計
105ΔIDDQ測試
106深亞微米IDDQ測試
107未來方向
參考文獻
第11章SOC測試
111概況
112SOC測試困難
113測試訪問機制
114測試外殼
115核心測試
116SOC系統測試
117測試標準
118核心測試語言
119未來的挑戰
參考文獻
第12章積體電路測試標準
121積體電路相關標準機構
122國際積體電路測試標準介紹
下篇積體電路測試設備
第13章積體電路測試系統概述
131積體電路測試系統發展概述
132積體電路測試系統分類
133積體電路測試系統專用積體電路
134分散式積體電路測試系統
參考文獻
第14章積體電路測試驗證系統
141積體電路測試驗證要求和測試驗證系統發展
142第1代測試驗證手段和系統
143第2代測試驗證系統的構成
144第3代測試驗證系統的特點
145現代測試驗證系統的要求和特點
參考文獻
第15章數字積體電路測試系統
151數字積體電路測試系統原理
152數字SSI/MSI測試系統
153數字LSI/VLSI測試系統
參考文獻
第16章RAM測試技術和測試系統
161RAM的基本組成及結構
162RAM測試
163RAM測試系統
參考文獻
第17章模擬積體電路測試系統
171模擬電路的測試需求
172模擬電路測試系統的系統結構
173模擬測試系統儀器構成原理
174現代模擬積體電路測試系統
參考文獻
第18章數模混合信號積體電路測試系統
181混合信號電路對測試的需求
182混合信號電路測試系統的體系結構
183混合信號電路測試系統的同步
184混合信號測試的特殊儀器
185混合信號電路測試系統
第19章基於標準匯流排的積體電路測試系統
191基於標準匯流排的積體電路測試系統發展
192虛擬儀器
193自動測試系統軟體體系結構
194基於標準匯流排的通用積體電路測試系統舉例
參考文獻
第20章基於DFT測試儀
201傳統ATE
202DFT測試儀
203測試方法
204DFT測試套用
205DFT測試儀與傳統ATE區別
206一種邊界掃描DFT測試系統——JTAG
參考文獻
第21章SOC測試系統
211SOC測試特性
212SOC測試系統特性
213SOC測試系統
參考文獻
第22章積體電路測試系統的計量
221量值溯源基礎
222積體電路測試系統校準與參數溯源的基礎原理
223積體電路測試系統校準與參數溯源方法介紹
224積體電路測試系統國家校準規程
參考文獻
第23章積體電路測試輔助設備
231自動分選機
232探針測試台
參考文獻