材料研究方法[化學工業出版社出版的圖書]

《材料研究方法》是化學工業出版社出版的圖書。主要介紹了X射線衍射,電子顯微分析以及光學金相,無損探傷檢測和熱分析等材料分析測試技術。

基本信息

材料研究方法

所屬類別

教材 >> 本科 >> 本科材料

作者:陳建、嚴文、劉春霞 主編

出版日期:2011年10月 書號:978-7-122-12315-2

開本:16 裝幀:平 版次:1版1次 頁數:258頁

內容簡介

本書的內容主要包括光學金相、X射線衍射、電子顯微分析、無損探傷和熱分析等幾部分,共十七章。其中,X射線衍射和電子顯微分析是全書的主體。光學金相的內容設兩章,無損探傷設兩章,DSC和DTA單獨為一章。

本書既可作為金屬材料工程專業本科生和研究生的教材或教學參考書,也可作為從事冶金、機械等行業相關科研人員及工程技術人員的參考書。

目錄

第一章光學金相分析

第一節光學透鏡基礎知識

一、光的折射

二、光學透鏡的像差

第二節金相顯微鏡的原理及結構

一、金相顯微鏡的工作原理

二、金相顯微鏡的結構

第三節金相顯微鏡的性能

一、顯微鏡的解析度

二、顯微鏡的有效放大倍數

三、顯微鏡的景深(垂直分辨能力)

第四節金相試樣的製備

一、取樣

二、鑲嵌

三、粗磨

四、細磨

五、拋光

六、浸蝕

第五節定量金相

一、定量金相的基本符號

二、定量金相的基本原理

三、定量金相的測試方法

四、誤差分析

五、圖像分析儀定量金相分析

習題

第二章特殊光學金相技術

第一節偏振光的基礎知識

一、偏振光和自然光

二、偏振光的類型

三、偏振光的產生

第二節偏振光金相顯微鏡

一、偏振顯微鏡的裝置

二、偏振顯微鏡的調整

第三節偏振光金相分析原理

一、偏振光在各向異性金屬磨麵上的

反射

二、偏振光在各向同性金屬磨麵上的

反射

第四節偏振光在金相分析過程中的套用

一、材料顯微組織的顯示

二、非金屬夾雜物的鑑定

第五節干涉顯微鏡

一、干涉原理

二、干涉顯微鏡的結構

第六節相襯金相顯微鏡

一、相襯分析原理

二、相襯顯微鏡

習題

第三章X射線運動學衍射理論

第一節布拉格方程

一、布拉格方程的導出

二、布拉格方程的討論

第二節倒易點陣與埃瓦爾德球

一、倒易點陣的概念

二、倒易矢量及其性質

三、布拉格定律的埃瓦爾德球圖解法

第三節單位晶胞對X射線的散射與結構

因數

一、結構因數公式的推導

二、幾種點陣的結構因數計算

第四節多晶體衍射的積分強度

一、洛倫茲因數

二、多重性因數

三、吸收因數

四、溫度因數

五、多晶體衍射的積分強度公式

習題第四章X射線衍射方法

第一節勞埃法

一、勞埃相機

二、勞埃圖像的形成原理

第二節德拜謝樂法

一、衍射圖的形成原理

二、德拜相機

三、德拜相的誤差及修正

四、立方結構物質的德拜相分析

第三節X射線衍射儀

一、測角儀部分

二、光學布置

三、探測與記錄系統

四、探測器掃描方式及參數

習題

第五章物相分析及點陣參數精確測定

第一節定性分析

一、基本原理

二、粉末衍射卡片(PDF)

三、索引

四、定性分析過程

第二節定量分析

一、定量分析原理

二、外標法

三、內標法

四、基體沖洗法(K值法)

第三節點陣常數的精確測定

一、誤差的來源

二、圖解外推法

三、最小二乘方法

四、標準樣校正法

第四節非晶態物質及其晶化過程的X射

線衍射分析

一、非晶態物質結構的主要特徵

二、非晶態結構的徑向分布函式

三、非晶態物質的晶化

習題

第六章巨觀應力的測定

第一節X射線巨觀應力測定的基本原理

一、彈性應力和應變的關係

二、X射線應力測定計算公式的

推導

三、X射線應力測定的方位角選擇

第二節巨觀應力測試方法

一、固定ψ法

二、固定ψ0法

三、側傾法

第三節X射線巨觀應力測定中的一些

問題

一、定峰法

二、應力常數K的確定

三、影響巨觀應力測量精度的因素

習題

第七章織構的測定

第一節晶體取向和織構的定義

一、晶體取向以及表示方法

二、織構的概念及類型

第二節極射投影及極圖

一、極射投影

二、極圖的繪製及織構組分的判斷

三、反極圖

第三節極圖測試方法

第四節反極圖測試方法

第五節取向分布函式

一、取向分布函式的概念

二、取向分布函式計算中的級數展開

習題

第八章電子光學及透射電子顯微鏡的構造

第一節成像原理及解析度

一、凸透鏡成像

二、解析度

三、電磁透鏡

第二節電磁透鏡的像差

一、像差

二、像差對解析度的影響

第三節景深和焦長

一、景深

二、焦長

第四節透射電鏡的結構

一、照明系統

二、成像系統

三、觀察記錄系統

四、光闌

五、樣品台

習題

第九章透射電子顯微鏡樣品的製備方法

第一節復型樣品製備

一、一級復型

二、二級復型

三、萃取復型

第二節薄膜樣品的製備

一、金屬薄膜樣品的製備

二、無機非金屬塊體薄膜樣品的製備

三、高分子塊體薄膜樣品的製備

第三節其他制樣方法

一、粉末樣品的製備

二、截面樣品的製備

三、聚焦離子束方法

四、真空蒸塗方法

習題

第十章電子衍射

第一節電子衍射與X射線衍射的比較

第二節電子衍射原理

一、布拉格定律與埃瓦爾德球圖解法

二、晶帶軸定律和零層倒易面

三、干涉函式與倒易點陣擴展

四、電子衍射基本公式

第三節電子顯微鏡中的電子衍射

一、有效相機常數

二、選區電子衍射

三、磁轉角

第四節單晶體電子衍射花樣的標定

一、已知晶體結構時衍射花樣的標定

二、未知晶體結構時衍射花樣的標定

三、標準花樣對照法

第五節複雜電子衍射花樣

一、高階勞厄區斑點

二、超點陣斑點

三、孿晶斑點

四、菊池線分析

習題

第十一章高分辨電子顯微術

第一節高分辨像的成像原理

一、高分辨電子顯微像的成像過程

二、透射函式

三、襯度傳遞函式

四、謝爾策欠焦

五、色差和會聚角對像解析度的影響

第二節弱相位體高分辨像的直接解釋

一、晶格條紋像和一維結構像

二、二維結構像

第三節高分辨像顯示位錯特徵的方法

習題

第十二章晶體薄膜衍襯成像分析

第一節電子顯微鏡圖像的襯度

一、質厚襯度

二、相位襯度

三、衍射襯度

第二節消光距離

第三節衍襯運動學

一、基本假設

二、完整晶體的衍射強度

三、完整晶體衍射運動學理論對等厚條紋

和等傾條紋的解釋

第四節晶體缺陷分析

一、非理想晶體的衍射襯度

二、位錯

三、層錯

四、第二相粒子

第五節衍襯運動學理論的局限性

習題

第十三章掃描電子顯微鏡

第一節電子束與固體樣品作用時產生的

信號

一、二次電子

二、背散射電子

三、吸收電子

四、透射電子

五、特徵X射線

六、俄歇電子

第二節掃描電鏡的構造和工作原理

一、電子光學系統

二、信號收集處理和圖像顯示記錄系統

三、真空系統和電子系統

第三節掃描電子顯微鏡的性能與特徵

一、解析度

二、放大倍數

三、景深

四、樣品製備

第四節表面形貌襯度成像原理及套用

一、二次電子成像原理

二、二次電子形貌襯度的套用

第五節原子序數襯度原理及其套用

一、背散射電子形貌襯度特點

二、背散射電子原子序數襯度原理

習題

第十四章波譜、能譜以及電子背散射衍射

第一節波譜儀

一、波譜儀分析原理

二、波譜儀的工作原理與結構

三、波譜儀定性和定量分析

第二節能譜儀

一、能譜儀的結構

二、能譜儀定性分析

三、能譜儀定量分析

第三節波譜儀/能譜儀的分析方法及

特點

一、點分析

二、線分析

三、面分析(X射線像)

第四節電子背散射衍射簡介

一、EBSD系統的硬體組成

二、EBSD花樣的標定

三、EBSD的套用

習題

第十五章超音波檢測

第一節超音波檢測基本原理

一、超聲場及介質的聲參量簡介

二、超音波的分類

三、超音波的速度

四、超音波在介質中的傳播特性

五、超聲場的特徵

第二節超音波換能器

第三節超音波檢測方法

一、接觸法與液浸法

二、縱波脈衝反射法

三、橫波探傷法

四、表面波探傷法

五、蘭姆波探傷法

六、穿透法檢測

習題

第十六章其他常見無損探測方法

第一節射線檢測

一、射線檢測的基本原理

二、射線檢測的方法

三、常見的缺陷影像特徵及判斷

四、中子照相

第二節液體滲透檢測

一、液體滲透探傷原理

二、液體滲透探傷法的分類和檢測方法

第三節磁粉檢測

一、磁粉檢測的基本原理

二、磁粉檢測方法

第四節渦流檢測

一、渦流探傷的特點

二、渦流檢測的原理

習題

第十七章熱分析

第一節差熱分析

一、差熱曲線的形成及差熱分析的一般特點

二、差熱曲線提供的信息

三、影響DTA曲線的因素

四、實驗數據的處理

第二節差示掃描量熱法

一、差示掃描量熱法的特點

二、差示掃描量熱法的影響因素和數據處理

第三節熱分析在金屬合金研究中的套用

一、相圖的測繪

二、熔點的確定

三、測定鋼的過冷奧氏體轉變曲線

四、研究合金的有序無序轉變

五、研究淬火鋼的回火

六、非晶態合金晶化過程的研究

七、居里點的測定

習題

附錄

附錄A物理常數

附錄B常見晶體的標準電子衍射花樣

附錄C質量吸收係數μl/ρ

附錄D原子散射因子f

附錄E特徵X射線的波長和能量表

附錄F立方和六方晶體可能出現的反射

參考文獻

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