掃描隧道與掃描力顯微鏡分析原理

作　者：姚琲 編著，天津大學出版社2009年03月出版發行的圖書。

基本信息

內容簡介

《掃描隧道與掃描力顯微鏡分析原理》介紹了各種掃描探針顯微鏡的工作原理和工作模式，用量子力學微擾理論闡明了電子隧道和納米間距的針尖-樣品的相互作用的起源，簡單介紹了密度泛函第一性原理和分子動力學方法對針尖-樣品相互作用的動態模擬方法，奠定了開展掃描探針微納測試與加工技術研究的理論與實驗基礎。

圖書目錄

第1章 掃描探針及掃描力顯微鏡簡介

1.1 掃描隧道顯微鏡

1.2 原子力顯微鏡

1.3磁力顯微鏡

1.4 橫向力顯微鏡

1.5 其他SPM技術

1.6 SPM表面分析的手段

1.7 SPM工作環境

第2章 STM和SFM的統一微擾理論

2.1 統一微擾理論的產生原因

2.2 改進的Bardeen近似法

參考文獻

第3章 針尖-樣品相互作用理論

3.1 針尖-樣品相互作用

3.2 長程力（范德瓦爾斯力）

3.3 相互作用能（黏結能）

3.4短程力

3.5 形變

3.6 原子傳輸

3.7 由針尖引發的電子結構變化

3.8 擠壓效應

3.9 隧穿向彈道傳輸的轉變

參考文獻

第4章 針尖-樣品相互作用的分子動力學模擬

4.1 算法

4.2 研究特例

參考文獻

第5章 彈性介質接觸式掃描力顯微技術

5.1 層狀材料的連續彈性體理論

5.2SIW和彈性介質間的相互作用

5.3 局域抗彎剛度

參考文獻

第6章 原子尺度的摩擦理論

6.1 摩擦力的微觀起源

6.2 理想化的摩擦力學

6.3 摩擦力的模擬計算

6.4 掃描力顯微鏡無損針尖-基底相互作用的限制

參考文獻

第7章 非接觸力顯微技術理論

7.1 分析方法簡介

7.2 范德瓦爾斯力

7.3離子力

7.4 少量分子的擠壓：溶解力

7.5毛細力

7.6 結論

參考文獻

相關詞條

相關搜尋

熱門詞條

聯絡我們