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微分干涉差顯微鏡
微分干涉顯微鏡(DIC)出現於60年代,它不僅能觀察無色透明的物體,而且圖象呈現出浮雕狀的立體感,並具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點,觀察效果更為逼真。
來歷簡介 技術設計 產品優點 -
顯微鏡
顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器,是人類進入原子時代的標誌。主要用於放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學顯微鏡和電子...
發明過程 顯微鏡結構 顯微鏡解析度 顯微鏡分類 光學顯微鏡 -
金相顯微鏡
電腦型金相顯微鏡或是數碼金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研製成的高科技產品,可以在計算機上很方便地觀...
系統簡介 技術參數 系統組成 特點特性 使用方法 -
微分干涉術
由光源出射的照明光經起偏器後變為東-西方向振動的線偏振光,第一次進入微分干涉稜鏡內部時分為尋常光(o光)和非尋常光(e光),這兩束光微微分開,而其振動方...
簡介 背景介紹 微分干涉所需部件 微分干涉基本原理 在材料金相檢驗中的套用 -
數字全息顯微鏡
數字全息顯微鏡(Digital holographic microscopy,簡稱DHM)是數字全息技術在顯微領域的套用,也被稱為全息顯微術。與其他顯微...
工作原理 獨特優勢 套用案例 技術比較 發展歷史 -
測量顯微鏡
測量顯微鏡是採用用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用於錄像磁頭、大規模積體電路線寬以及其它精密零件的測試儀器。廣泛地適用於計量室、生產作...
分類簡介 基本原理 技術參數 主要特點 主要功能 -
等厚干涉
薄膜干涉分為兩種一種叫等傾干涉,另一種稱做等厚干涉。等厚干涉是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋.薄膜厚度相同的地方...
簡介 實驗 套用 -
珠寶顯微鏡
寶石顯微鏡在珠寶鑑定中用於觀察樣品的內含物和表面特徵等肉眼無法觀察的現象,是合成品、最佳化處理品和人造品的鑑定必不可少的寶石鑑定儀器。在鑽石分級上也具有極...
套用 操作使用 照明方法參考 主要用途 特徵 -
尼康顯微鏡
尼康顯微鏡用於高端生物科學研究領域的新型倒置顯微鏡系列。
品牌介紹 單品介紹 -
劈尖干涉
根據薄膜干涉的道理,可以測定平面的平直度.測定的精度很高,甚至幾分之一波長那么小的隆起或下陷都可以從條紋的彎曲上檢測出來.若使兩個很平的玻璃板間有一個很...
概述 實驗 e=λ/2n 實驗步驟