太陽光電磁像儀
正文
用光電輻射探測器測量太陽磁場的一種基本儀器，也稱向量磁像儀，是美國天文學家H.D.巴布科克於1953年發明的。光電磁像儀一般是由太陽攝譜儀改制的。在圖1中，入射狹縫前有一組偏振光分析器，由波片、電光晶體、偏振片組成。電光晶體通光的兩個表面上鍍有透明電極，加上交變的高壓電信號，便成為調製波片,其光學滯後量通常是在±1/4波長範圍內變化。這樣，偏振光分析器便能對不同的偏振成分進行調製分析。在攝譜儀焦面處有三個緊靠在一起的出射狹縫,正中狹縫對準譜線輪廓中央,用於橫向磁場測量。兩旁狹縫處於譜線輪廓翼部對稱位置，用於縱向磁場測量。出射光進入相應的光電倍增管，輸出電流經過放大，再由電子裝置和計算機處理成磁場信號。在單獨進行縱向磁場測量時，偏振光分析器可以僅由電光晶體和偏振片構成。 太陽自轉和日面局部區域的運動，會產生正比於視向速度的譜線位移，破壞譜線輪廓相對於出射狹縫的對稱性。在出射狹縫前安置一塊可鏇轉的平面平行玻璃板，便可使譜線回到對稱位置。平板的轉動是由譜線輪廓翼部兩狹縫接收的平均信號強度的差值伺服控制的，平板轉角可作為視向速度的量度。因此，光電磁像儀還可測量日面不同地方的視向速度。
光電磁像儀原則上可測量縱向磁場、橫向磁場及其方位角，但測量橫向磁場是很困難的，因為橫向磁場的信號比縱向磁場的弱得多，而且不能在測量過程中自動消除儀器偏振。許多光電磁像儀的前置光學系統中均採用了定天鏡那樣的裝置。這種裝置引入的儀器偏振是變化的，難於補償，而且在數值上往往會大於橫向磁場導致的太陽輻射偏振。因此，許多光電磁像儀實際上只用於測量縱向磁場。但是，光電磁像儀測量精度高，在選擇譜線上具有較大的靈活性，除了測量磁場外，還可測量日面亮度場和視向速度場。隨著多通道探測器的套用，測量速度也不斷提高。圖2是用美國基特峰天文台光電磁像儀得到的太陽磁圖。 參考書目
葉式煇編著:《天體的磁場》,科學出版社,北京,1978。
