反射率檢測儀

簡介

反射率檢測儀是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用於凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

英文名稱：

Reflectivitymeasuring instrument

特點

物鏡對焦於被測物微小區域（φ60μm）顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等 高性能探測器，能在幾秒內實現重現性高的測定無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

技術參數

型號Sphere-3000（I型）Sphere-3000（II型）Sphere-3000（III型）檢測範圍380~800nm380~1000nm380~1100nm波長解析度1nm1nm1nm相對檢測誤差﹤1%﹤1%﹤0.5%測定方法與標準物比較測定被測物再現性±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm)±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm)±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm)單次測量時間﹤1s精度0.3nm被測物N.A.0.12(使用10×對物鏡時)
0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸直徑>1mm
厚度>1mm(使用10×對物鏡時)
厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)被測物
測定範圍約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時)設備重量約15kg（光源內置）設備尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm使用環境水平且無振動的場所
溫度：23±5℃；濕度：60%以下、無結露，作業系統Windows XP, Windows Vista，Win7軟體分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測定