半導體單晶晶向測定方法

作者：本社 出版時間：2010-1-1 N：19554包裝：平裝本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會提出。

基本信息

作　者：本社 編
出 版 社：鳳凰出版社
出版時間：2010-1-1
版　次：1頁　數：5字　數：11000印刷時間：2010-1-1開　本：大16開紙　張：膠版紙印　次：1I S B N：19554包　裝：平裝

內容簡介

本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會提出。
本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會歸口。