位錯增殖機制

位錯的增殖機制主要也有三種機制：弗蘭克-里德位錯源（Frank-Read source）機制、雙交滑移增殖機制，和攀移增殖機制。

介紹

弗蘭克-里德位錯源是若某滑移面有一段刃型位錯AB，兩端被位錯網節點釘住不能運動。在沿其垂直線方向外加剪下應力使位錯沿滑移面運動，由於兩端固定，所以只能使位錯線彎曲。在應力作用下它經歷由圖中紅線到黑線、藍線、綠線再到黃線的過程，而產生出一個位錯環，自身又回到黑線狀態，如此循環不已，每周產生出一個新的位錯環，從而實現位錯增殖。使弗蘭克-里德位錯源啟動的臨界應力依賴於AB的長度(即釘扎點之間的距離)及此位錯的線張力。

移源

螺位錯滑移時因局域切應力變化而改變滑移面，又因局域切應力減弱而回到原滑移面而發生雙交滑移。但這種局域切應力的作用僅使一段位錯發生雙交滑移，因而在雙交滑移發生由次滑移面至主滑移面轉化時，出現相對固定的兩點，它就以F-R源開始增殖。

位錯增殖機制

割階高度很大時（大於20μm），割階兩端所連線的位錯間的相互作用可忽略，它們各自可自由地在滑移面上運動。但因這2個位錯的一端被割階釘扎，它們只能以這點為軸心作旋轉運動，以單邊F-R源開動。