三維白光掃瞄器的特徵
·第1代的特點是逐點掃描，速度慢。如三坐標測量機CMM
·第2代的特點是逐線掃描，速度仍然較慢，如雷射線掃瞄器
·第3代的特點是面掃描，速度非常快,如PTS三維白光掃瞄器
三維光學掃瞄器按照其原理分為2類，一種是“照相式”，一種是“雷射式”，兩者都是非接觸式，也就是說，在掃描的時候，這兩種設備均不需要與被測物體接觸。
“雷射式”掃瞄器屬於較早的產品，由掃瞄器發出一束雷射光帶，光帶照射到被測物體上並在被測物體上移動時，就可以採集出物體的實際形狀。“雷射式”掃瞄器一般要配備關節臂.
“照相式”掃瞄器是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器，與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較，其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差，整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面，藉助兩個高解析度CCD數位相機對光柵干涉條紋進行拍照，利用光學拍照定位技術和光柵測量原理，可在極短時間內獲得複雜工作表面的完整點雲。其獨特的流動式設計和不同視角點雲的自動拼合技術使掃描不需要藉助於工具機的驅動，掃描範圍可達12M，而掃描大型工件則變得高效、輕鬆和容易。其高質量的完美掃描點雲可用於汽車製造業中的產品開發、逆向工程、快速成型、質量控制，甚至可實現直接加工。
三維白光掃瞄器的主要特點是:
·一次測量一個面，掃描速度極快，數秒內可得到100多萬點
·便攜，可搬到現場進行測量
·工件或測量頭可隨意調節成便於測量的姿勢
·大景深（可達300~500mm)
·測量範圍大
·精度高
·測量點分布非常規則
·大型物體分塊測量、自動拼合
南寧臨界四維三維白光掃瞄器的套用領域
1) CAD/CAM/逆向工程(RE)/快速成型(RP)：
·掃描實物，建立CAD數據；或掃描模型，建立用於檢測部件表面的三維數據
·對於不能使用三維CAD數據的部件，建立數據
·使用由RP創建的真實模型，建立和完善產品設計
·有限元分析的數據捕捉
2)檢測(CAT)/CAE： 生產線質量控制和曲面零件的形狀檢測
3)科學研究：計算機視覺、計算幾何、考古研究
4)其他套用：文物、藝術品的錄入和電子展示、動畫造型、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術
三維白光掃瞄器特點：
1. 非接觸掃描: 利用照相式原理，進行非接觸式光學掃描獲得物體表面三維數據。2. 掃描速度極快： 獨特的面掃描方式，速度極快（單面掃描時間小於5秒）。
3. 高精度： 利用獨特的測量技術，可獲得非常高的測量精度。
4. 高密度採樣點： 高性能測量頭可以一次獲得極高密度的點雲數據。
5.攜帶型設計： 所有部件靈活可靠、方便移動，可根據現場實際情況進行測量。
6.掃描方式靈活： 支持標誌點拼接和轉台拼接。通過標誌點的拼接可以合成多次測量的結果，從
而實現超大面積掃描.利用轉台拼接可以靈活轉動物體，從而最大程度減少測量
的死角。
7.對環境條件不敏感： 採用高性能的光學和機械部件，可以在大多數的環境下獲得高性能的數據。
8.操作軟體界面友好： 高度集成和智慧型化的設計，使用戶無論經驗多少都不需過多的培訓就可以熟練操作.
9.點雲噪聲處理和修剪：可以對測量產生的噪音點進行修剪、剔除。
10.量輸出數據接口廣泛：測量結果輸出為asc 格式，可以與surfacer(imageware)、
UG、CATIA、Geomagic、Pro/e、MasterCAM 等軟體交換數據。
11.兼容性好：兼容Windows98/NT/2000/XP 平台，簡便易學。
