概述
LIV測試系統將多台儀器組合起來,包括測試雷射二極體模組直流特性、光功率與嚴格的溫度控制等儀器。
主要特性
可程式LIV測試系統,用於雷射二極體模組測試
掃描測量400點的時間<8s
用於雷射二極體驅動的極低噪聲電流源(50μA)
最大可達5A的雷射二極體驅動電流
可直接測量光功率
暗電流測量解析度可達1fA
用於溫度控制的全數字P-I-D環
0.005°C溫度穩定性,±0.001°C定點解析度
觸發連線、源存儲器以及緩衝存儲器,支持自動測試序列
可擴展、靈活架構
吉時利LIV(光強-電流-電壓)測試系統用於滿足雷射二極體模組(LDM)製造商生產測試的要求,使他們增加產量和收益。
LIV測試系統將多台儀器組合起來,包括測試雷射二極體模組直流特性、光功率與嚴格的溫度控制等儀器。
可程式LIV測試系統,用於雷射二極體模組測試
掃描測量400點的時間<8s
用於雷射二極體驅動的極低噪聲電流源(50μA)
最大可達5A的雷射二極體驅動電流
可直接測量光功率
暗電流測量解析度可達1fA
用於溫度控制的全數字P-I-D環
0.005°C溫度穩定性,±0.001°C定點解析度
觸發連線、源存儲器以及緩衝存儲器,支持自動測試序列
可擴展、靈活架構
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概述 套用義, 唐文彥, 張春富, 李慧鵬. 連續半導體雷射器LIV特性測試系統.... 基於脈衝注入調製的LD光功率-電流-電壓特性測試系統. 大連海事大學學報...博士研究生; 2005.9―2010.1 哈爾濱工業大學自動化測試...
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