立體測量
能提供物料表面成像圖
精確反映料位實際狀況,而不是估計值(min\max)
精確提供實際料位,體積以及質量(1.6%)
抗干擾極強(抗密度低於200Kg/M3 的粉塵)
空倉掃描功能,去除倉內建築的干擾
將料位測量和庫存管理水平提高到前所未有的高度
Essen-K波雷達物位成像儀優勢
立體掃描,而非常規雷達的點掃描,提供更加真實的測量數據
可3維成像,直觀的顯示料倉的實際狀況
不受粉塵的干擾
自動變頻測量,任何型號最大測量距離都可達到70米
Essen-K波雷達物位成像儀測量原理
全球領先技術--微波側視成像孔徑雷達技術
利用二維矩陣波束為傳遞媒介,根據各種物質的不同微波波譜特性,
對測量目標進行非接觸性偵測、識別、成像
連續監測筒倉或開放式倉室內物料的物位、體積和質量等信息。
圖像可在遠端監控螢幕上顯示出來
Essen-K波雷達物位成像儀軟體功能強大
全面的回波分析功能
獨特的空倉掃描功能,可去除倉內的加強梁、梯子、等障礙物對測量的干擾,使測量更準確。
倉內物料情況分析軟體,可以分析倉內物料掛壁狀況,提供用戶安全生產建議。
物料表面成像功能,為用戶提供了解物料堆積狀況的直觀參考。(並有過程回放功能)
獨有的聲波振打功能,有效地防止物料灰塵在雷達發射內壁的堆積,從而保證雷達的長期、正常的工作。
全面的倉型選擇功能真實、高精度的物料體積測量
Essen-K波雷達物位成像儀的套用場合
燃煤電廠: 煤粉倉,石灰倉,煤堆等
鋼鐵: 各種料倉
有色金屬: 各種礦石及原料倉庫,研磨塔
造紙: 漂白過程,木片堆場等
化工: 物料倉,固體成品倉
水泥: 水泥粉倉、料倉
食品飲料: 穀物倉,奶粉倉,麵粉倉
Essen-K波雷達物位成像儀的選型譜表
AS 、A型套用於各種物料的容積、平均物位的測量
BM 、B型套用於各種物料的容積、表面的最高點和最低物位測量,可製圖
CMV 、C型套用於除以上功能外增加物料表面可視化功能
AS 、A型可通過軟體升級到BM 、B型和CMV 、C型
BM 、B型可通過軟體升級到CMV 、C型
Essen-K波雷達物位成像儀的認證
ATEX ATEX II 1/2D, 2D
FM FM intrinsic safety
CSA CSA Intrinsic safety
IECB 型IEC EEx ia IIC T6
CE
EMC
EMission EN 61326: 1997 (class B)
susceptibility EN 61326: 1997/A1: 1998
NSR(73/23/EWG) EN 61010-1: 2001
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