性能
該視窗顯示數據緩衝區的數據,其顯示格式有16進制格式(hex)、jed等格式。緩衝區數據來源有4種,即載入檔案、讀入晶片、填充數據或預設狀態數據。G540軟體啟動時,該視窗是關閉的。當您載入檔案,或編輯修改緩衝區,或從器件讀入數據時,該視窗自動打開並顯示在最前端。
測試
IC測試
IC測試功能主要是針對RAM器件,TTL(74LS系列、54LS系列)、CMOS4000系列通用數字電路而言。
IC測試分兩種情況:
1.已知器件型號,測量是否完好;
2.未知器件型號,查找分析所屬型號。(註:RAM器件不適用)