簡介
什麼是BIST測試技術？
技術，它可以套用於幾乎所有電路，因此在半導體工業被廣泛套用。舉例來說，在DRAM中普遍使用的BIST技術包括在電路中植入測試圖形發生電路，時序電路，模式選擇電路和調試測試電路。
BIST技術的快速發展很大的原因是由於居高不下的ATE成本和電路的高複雜度。現在，高度集成的電路被廣泛套用，測試這些電路需要高速的混合信號測試設備。BIST技術可以通過實現自我測試從而減少對ATE的需求。
BIST技術也可以解決很多電路無法直接測試的問題，因為他們沒有直接的外部引腳，比如嵌閃。可以預見，在不久的將來即使最先進的ATE也無法完全測試最快的電路，這也是採用BIST的原因之一。
優點
採用BIST技術的優點在於：
1， 降低測試成本
2， 提高錯誤復蓋率
3， 縮短測試所需時間
4， 方便客戶服務
5， 獨立測試的能力
缺點
1， 額外的電路占用寶貴面積
2， 額外的引腳
3， 可能存在的測試盲點
存在的問題
採用BIST所存在的問題：
1，哪些測試需要BIST完成？
2，最多允許多少額外的面積？
3，需要什麼樣的外部激勵？
4，測試所需時間和效率？
5，BIST是固定的還是可程式的？
6，採用BIST將對現有工序產生什麼影響？
BIST技術大致可以分兩類： Logic BIST(LBIST) 和 Memory BIST (MBIST)
LBIST通常用於測試隨機邏輯電路，一般採用一個偽隨機測試圖形生成器來產生輸入測試圖形，套用於器件內部機制；而採用多輸入暫存器（MISR）作為獲得輸出信號產生器。
MBIST只用於存儲器測試，典型的MBIST包含測試電路用於載入，讀取和比較測試圖形。目前存在幾種業界通用的MBIST算法，比如“March”算法，Checkerboard算法等等。
另一種比較少見的BIST稱為Array BIST，它是MBIST的一種，專門用於嵌入式存儲器的自我測試。Analog BIST則用於模擬電路的自我測試。
BIST技術正成為高價ATE的替代方案，但是BIST技術目前還無法完全取代ATE，他們將在未來很長一段時間內共存。
