產品用途
高壓加速壽命試驗（全名高壓加速壽命試驗箱）是提高環境應力與工作應力施加給產品的電壓、負荷等，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，採用了最新的壓力蒸煮鍋試驗方法。用較少的時間就可完成對產品的濕度的測試。在100℃以上的溫度下，通過提高和增加壓力，可以模擬正常濕度測試，同時保持相同的故障機制。幾小時或幾天就能通過產品的老化測試，大大節省了產品開發周期。
規範要求
1、箱內膽採用圓弧設計,複合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接衝擊影響試驗結果。2、配備雙層不鏽鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定製專用產品架。
設備特點
1、採用頂級進口品牌配件,整機2年免費保修.2、高壓加速壽命試驗箱最新最佳化設計,美觀大方,做工細節優良.
3、大容量水箱,試驗時間長,全自動補水,試驗不中斷.
4、採用真彩觸控螢幕控制器，溫度、濕度、壓力顯示，數據拷貝.
5、一體成型矽膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長.
6、電路整合設計,操作簡單,維護方便.
技術參數
型號L:PCT-250、PCT-350、PCT-450、PCT-550、PCT-250M、PCT-350M控制器:微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
解析度:溫度：0.1壓力：指針式0.1
控制穩定度:溫度：±0.5℃，濕度：100%
內箱材質:SUS316#不鏽鋼
外箱材質:高級鋼板烤漆或不鏽鋼（依客戶選擇）
尺寸（cm）
內箱:Φ25×D35Φ30×D45Φ40×D55Φ50×D60Φ25×D35Φ30×D45
外箱:W56×H65×D105W66×H105×D125W76×H115×D135W860×H135×D145W56×H65×D105W66×H105×D125
溫度範圍:110℃～132℃110℃～147℃
濕度範圍:100%RH飽和蒸氣
壓力範圍:表壓力+0.2～2.0kg/cm2表壓力+0.2～3.5kg/cm2
加壓時間:大約45分鐘大約55分鐘
循環方式:水蒸氣自然對流循環
安全保護:感溫器檢測保護，第一階段高溫保護，第一階段高壓保護，箱門壓力限制，水箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護，第二階段高溫保護，第二階段高壓保護，第三階段緊急泄壓保護，，手動泄壓保護，自動泄壓等。
