頻率起伏有三種造成精密晶體振盪器頻率起伏的噪聲根源:振盪器的熱噪聲:輔助電路如自動增益控制等所引起的附加噪聲;晶體自身的頻率起伏以及與晶體有關的電抗元件的變化,它產生幕律譜密度為f(-?)型的頻率起伏。微波激射器受前兩美或許還有第三類噪聲的影響。按照取平均對間的測量討論了這幾種嗓聲源對頻率起伏的影響。f~(-1)型的譜密度導致了與測童時間長度有關的結果。
分析了有限觀測時間的影響。討論了帶有伺服控制振盪器的無源和有源原子頻標的特徵。伺服時間常數的選擇影響觀測到的作為平均時間函式的頻率起伏,對於給定的晶振和原於參考,必須通過選擇獲得最好的性能。把尋常處理隨機倍號的方去,即方差、自相關以及譜密度套用于振盪囂頻率及相位起伏的特珠情形,以獲得表征振盪器頻率穩定度有意義的判據。