圖書內容
本書較全面地介紹電路與電子系統的故障診斷方法，主要內容包括：數字電路、模擬電路、混合電路及微機系統的測試與故障診斷。
本書還從實用的角度出發，講解電路的維修技術，介紹當前熱門的可測性設計技術。故障診斷的發展離不開測試技術的發展，本書最後還根據作者多年的科研和工程經驗介紹網路化測試儀器的設計、面向信號的自動測試系統知識等。本書提供電子課件。
目 錄
緒論 1
0.1 電路與電子系統的複雜性 1
0.2 電路與電子系統故障診斷的必要性 2
0.3 電路與電子系統測試的特點 2
0.3.1 模擬電路與系統測試的特點 2
0.3.2 數字電路與系統測試的特點 3
0.3.3 混合電路測試的特點 4
0.4 本書主要內容 4
本章參考文獻 6
第1章 電子系統常用故障診斷方法 7
1.1 常見故障診斷方法 7
1.1.1 基於故障模型的診斷方法 7
1.1.2 基於機器學習的診斷方法 9
1.1.3 基於信號處理的方法 10
1.1.4 基於解析模型的方法 11
1.1.5 基於知識的故障診斷方法 12
1.1.6 故障診斷方法的發展趨勢 14
1.2 基於故障樹的故障診斷方法 15
1.2.1 故障樹分析法中的基本概念和
符號 16
1.2.2 故障樹的生成 17
1.2.3 IEEE 1232的系統結構 19
1.2.4 IEEE 1232模型檔案 19
1.2.5 IEEE 1232的推理機服務 20
本章參考文獻 21
第2章 數字電路測試與故障診斷 22
2.1 數字電路測試方法概述 22
2.1.1 數字電路測試的基本概念 22
2.1.2 數字電路測試的必要性和複雜性 22
2.1.3 數字電路測試的發展 24
2.2 數字電路故障模型與測試 25
2.2.1 故障及故障模型 25
2.2.2 故障測試 27
2.2.3 故障冗餘 29
2.3 數字電路測試的基本任務 30
2.3.1 測試矢量的產生 30
2.3.2 測試回響的觀測 31
2.4 可測性與完備性 32
2.4.1 可測性 32
2.4.2 完備性 32
2.5 複雜系統的分級測試 33
2.5.1 子系統一級的測試 33
2.5.2 微機系統的測試 34
2.6 窮舉測試法 34
2.6.1 單輸出無扇出電路 35
2.6.2 帶匯聚扇出的單輸出電路 38
2.6.3 各輸出不依賴於全部輸入的
多輸出電路 40
2.7 故障表方法 40
2.7.1 固定式列表計畫偵查 41
2.7.2 固定計畫定位 42
2.7.3 適應性計畫偵查和定位 44
習題 47
本章參考文獻 48
第3章 組合電路與時序電路的故障診斷 50
3.1 通路敏化 50
3.1.1 敏化通路 50
3.1.2 通路敏化法 51
3.1.3 關於一維敏化的討論 53
3.1.4 多維敏化 55
3.2 d算法 56
3.2.1 d算法的基礎知識 56
3.2.2 d算法的基本步驟 58
3.2.3 d算法舉例 58
3.2.4 擴展d算法 63
3.3 布爾差分法 68
3.3.1 布爾差分的基本概念 68
3.3.2 布爾差分的特性 69
3.3.3 求布爾差分的方法 70
3.3.4 單故障的測試 73
3.3.5 多重故障的測試 76
3.4 故障字典 78
3.5 時序邏輯電路的測試 78
3.6 迭接電路法 79
3.6.1 基本思想 79
3.6.2 同步時序電路的組合迭接 80
3.6.3 異步時序電路的組合迭接 82
3.7 狀態變遷檢查法 85
3.7.1 初始狀態的設定 85
3.7.2 狀態的識別 88
3.7.3 故障的測試 88
3.7.4 區分序列的存在性 89
習題 91
第4章 模擬電路與混合信號的故障診斷 92
4.1 模擬電路測試的複雜性 92
4.1.1 模擬電路故障診斷概述 92
4.1.2 模擬電路故障診斷技術的產生 92
4.1.3 模擬電路故障特點 93
4.1.4 故障診斷是網路理論的一個重要
分支 93
4.2 模擬電路的故障模型 94
4.3 模擬電路的故障診斷方法 95
4.3.1 傳統的故障診斷方法 96
4.3.2 目前的故障診斷方法 96
4.3.3 發展中的新故障測試方法 97
4.4 故障字典法 99
4.4.1 直流域中字典的建立 99
4.4.2 頻域中字典的建立 103
4.4.3 時域中字典的建立 107
4.4.4 故障的識別與分辨 110
4.5 混合信號測試概述 112
4.5.1 混合信號的發展 112
4.5.2 混合信號測試面臨的挑戰 112
4.5.3 混合信號的基本測試方法 113
4.5.4 混合信號測試的展望 114
4.6 數模/模數轉換器簡介 115
4.6.1 數模轉換器 115
4.6.2 模數轉換器 118
4.7 混合信號測試匯流排 124
4.7.1 IEEE 1149.4電路結構 124
4.7.2 IEEE 1149.4測試方法 126
4.7.3 IEEE 1149.4標準指令 126
本章參考文獻 128
第5章 電路板維修技術 130
5.1 維修前的準備 130
5.1.1 維修設備和工具 130
5.1.2 安全技術 130
5.1.3 感官訓練 131
5.2 檢修技術和方法 131
5.2.1 電路檢修原則 131
5.2.2 具體電路問題及故障處理順序 132
5.2.3 故障維修方法 132
5.2.4 小結 145
第6章 微機系統的故障診斷 147
6.1 存儲器的測試 147
6.1.1 RAM中的故障類型 148
6.1.2 測試的若干原則性考慮 149
6.1.3 存儲器測試方法 150
6.1.4 各種測試方法的比較 155
6.2 ROM的測試方法 156
6.3 微處理器的測試 157
6.3.1 ?P的算法產生測試 158
6.3.2 ?P功能性測試的一般方法 161
6.3.3 ?P功能性測試的系統圖方法 166
6.4 利用被測系統的應用程式進行測試 168
6.4.1 基本概念 168
6.4.2 應用程式的模型化 168
6.4.3 關係圖 170
6.4.4 測試的組織 172
6.4.5 通路測試的算法 174
習題 177
本章參考文獻 177
第7章 可測性設計 178
7.1 可測性設計的概念 178
7.1.1 可靠性的定義 178
7.1.2 可靠性的主要參數指標 179
7.1.3 可測性設計的提出 179
7.2 可測性設計的發展 180
7.2.1 可測性的起源與發展過程 180
7.2.2 國內情況 181
7.2.3 關鍵的技術 182
7.2.4 國際標準 183
7.2.5 可測性設計發展趨勢 185
7.3 可測性的測度 186
7.3.1 基本定義 186
7.3.2 標準單元的可測性分析 188
7.3.3 可控性和可觀測性的計算 190
7.4 可測性設計方法 191
7.5 內建自測試設計 194
7.5.1 多位線性反饋移位暫存器 195
7.5.2 偽隨機數發生器 197
7.5.3 特徵分析器 198
7.5.4 內建自測試電路設計 200
7.6 邊界掃描技術 202
7.6.1 JTAG邊緣掃描可測性設計
的結構 203
7.6.2 工作方式 205
7.6.3 邊緣掃描單元的級聯 206
7.6.4 JTAG的指令 207
7.6.5 JTAG套用舉例 208
7.6.6 JTAG的特點 210
本章參考文獻 210
第8章 網路化測試儀器 212
8.1 分散式自動測試系統 212
8.1.1 分散式系統概述 212
8.1.2 分散式系統結構及其特點 213
8.1.3 分散式系統的優勢 214
8.1.4 分散式自動測試系統 215
8.2 網路化測試儀器 217
8.2.1 網路化測試儀器概述 217
8.2.2 網路化測試儀器設計規範 217
8.3 LXI匯流排測試儀器 233
8.3.1 LXI匯流排的發展 233
8.3.2 LXI測試儀器的基本特性 233
8.3.3 LXI測試儀器的分類 235
8.3.4 LXI測試儀器的結構與電氣
特性 238
8.3.5 LXI測試儀器的網路設定
與通信 242
8.3.6 LXI測試儀器的觸發與同步 247
8.3.7 LXI測試儀器IVI驅動接口設計
方法 250
本章參考文獻 253
第9章 面向信號的自動測試系統 254
9.1 自動測試系統概述及發展 254
9.1.1 自動測試系統的框架結構 254
9.1.2 自動測試系統的提出與發展 255
9.1.3 面向信號自動測試系統 257
9.1.4 面向信號的自動測試系統的
技術框架 258
9.2 IEEE 1641協定 260
9.2.1 IEEE 1641的提出 260
9.2.2 信號的層次結構 261
9.2.3 IEEE 1641標準的不足 263
9.3 ATML標準 263
9.3.1 XML標記語言 263
9.3.2 ATML標準 264
9.3.3 協定與自動測試系統各部分
的關係 265
9.4 IVI技術 266
9.4.1 可互換虛擬儀器技術 266
9.4.2 IVI技術 267
9.4.3 IVIsignal 269
9.5 自動測試系統套用 270
9.5.1 自動測試系統的軟體結構 270
9.5.2 測試過程 272
本章參考文獻 272
