地層產狀測量技術要求
主要有：（1）測量密度要滿足準確計算地層厚度、控制構造形態和製作構造橫剖面圖的需要。（2）測得的數據可靠。測量之前應仔細觀察和追索，尋找成層標誌，保證測定的露頭一定是基岩的層理面，且應判斷層序是否正常。注意區分三角洲相沉積岩中的大型斜層理，厚層塊狀碳酸鹽岩的節理風化面，變質岩中的片理和劈理面，非構造因素引起的局部產狀變化等。（3）測得的數據有代表性。測定的層理面，在較大範圍內產狀比較穩定，與地層總體層理面一致，層理面比較平整，且避開了小褶曲的影響。（4）測得的數據有系統性。產狀發生變化和構造關鍵部位，都有產狀要素控制空間展布狀況和變化規律，如褶皺的兩翼、轉折端、傾沒端、軸線、不整合面的上下地層、斷層面兩盤的地層產狀等。（5）測量之前要校正羅盤的磁偏角，測量誤差應小於2°。
地層產狀測量方法
有地質羅盤測定法、三點法和瞄準法等。地質羅盤測定法適用於傾角大於5°的地層；三點法適用於地層傾角很小或近似水平，用地質羅盤難以測量時，用經緯儀測量層面上三個點的坐標及高程，通過計算求出產狀；瞄準法讀數準確性差，只適用於不能實測時用。
地層產狀的表示方法
一般用0°到360°傾向方位角和傾角表示，如NW280°∠50°，表示地層傾向北西象限，傾斜方向280°，傾角50°。走向與傾向垂直可換算出走向。如果用走向表示，則為N10° E∠50°Nw，前半部為走向，後半部為傾角和傾向。產狀數據記錄在單層描述中，標繪在平面圖及順手剖面圖上。
