相關詞條
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I-V測量
I-V測量與直流電流-電壓（I-V）和電容-電壓（C-V）測量一樣，超快I-V測量[1]能力對於特徵分析實驗室中所有負責開發新材料、器件[2]或工藝的所...
定義概述 I-V測量技術的發展 展望下一代超快I-V測試系統 -
C-V測量
遠程探測線的同軸線纜，而且線纜長度要控制的非常精確。超快I-V測試需要50歐姆的同軸線纜，但是遠程探測線卻給超快I-V測試帶來了阻抗失配的問題...線纜連線可用於C-V或超快I-V測試[27]（間接連線），而更特殊...
概念 三種測量技術 方法與套用 局限性 測量誤差 -
北京海瑞克科技發展有限公司
互補發電系統和太陽能電池測試產品方面取得了重大進展。2009年，公司獲得...的檢測與測試技術，為光伏發電行業內矽料、矽片、太陽能電池組件、太陽能電站...光伏發電實驗室組建方案，其中包括的儀器設備主要有矽片及矽料測試設備...
公司簡介 公司主營業務 矽片及矽料測試設備 太陽能電池測試設備 太陽能電池實訓設備 -
過電應力(EOS)器件、電路與系統
時間常數——傳輸線脈衝332.2.5ESD脈衝時間常數——超快傳輸線...4.3總結及綜述105參考文獻106第5章EOS測試和仿真1095.1ESD測試——器件級1095.1.1ESD測試——人體模型...
內容簡介 圖書目錄 -
TLP
/三階段模型 [3]，則需要通過分階段（如超快階段和普通階段）進行測試分析...廠家的ESD測試設備之間測試結果也有一定的差異；此外，TLP系統是超快脈衝...TLP設備原理 TLP測試的IV曲線 二次擊穿電流(It2)是器件能...
TLP設備原理 TLP脈衝與各靜電放電模型之間的異同 技術研發歷程 技術服務情況 -
4200-SCS型半導體特性分析系統
* 4225-PMU超快I-V模組* 4220-PGU脈衝發生器單元（僅電壓源...套件* 4225-PMU超快I-V模組 ... 0.1fA* 用於高級半導體測試的新型脈衝與脈衝式I-V功能* 集成了示波與脈衝...
特徵 配件套用 儀器套用 套用套件 -
相變存儲器
脈衝掃描同時獲得I-V和RI曲線，其中採用了高速脈衝源和測量儀器，即雙通道的4225-PMU 超快I-V模組。這種新模組能夠提供電壓源，同時以較高...能夠自動實現整個測試過程。 ...
存儲數據 發展歷史 物理變化 相互轉化 工作原理
