聚焦單色Ⅹ射線束

自1896年X射線被發現以來，可利用X射線分辨的物質系統越來越複雜。從簡單物質系統到複雜的生物大分子，X射線已經為我們提供了很多關於物質靜態結構的信息。此外，在 各種測量方法中，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。由於晶體存在的普遍性和晶體的特殊性能及其在計算機、航空航天、能源、生物工程等工業領域的廣泛套用，人們對晶體的研究日益深入，使得X射線衍射分析成為研究晶體最方便、最重要的手段。

原理

1912年勞埃等人根據理論預見，並用實驗證實了X射線與晶體相遇時能發生衍射現象，證明了X射線具有電磁波的性質，成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時，由於晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。

勞埃法

勞埃法以光源發出連續X射線照射置於樣品台上靜止的單晶體樣品，用平板底片記錄產生的衍射線。根據底片位置的不同，勞埃法可以分為透射勞埃法和背射勞埃法。背射勞埃法不受樣品厚度和吸收的限制，是常用的方法。勞埃法的衍射花樣由若干勞埃斑組成，每一個勞埃斑相應於晶面的1～n級反射，各勞埃斑的分布構成一條晶帶曲線。