矽片檢測顯微鏡是對太陽能矽片單晶矽，多晶矽進行顯微觀察的儀器。
GPM-80 系列高倍大平台矽片檢測顯微鏡適用於對太陽能矽片單晶矽，多晶矽進行顯微觀察。本儀器配置大移動範圍的機械式載物台、落射照明器，同時還配有內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是單/多晶矽片、太陽能板、半導體封裝測試、積體電路、電子晶片、電路板、液晶板、鍍塗層，及其它非金屬材料等。也是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
GPM-80V電腦型矽片檢測顯微鏡/GPM-80C數碼矽片檢測顯微鏡成像系統是上海巴拓儀器廠通過光電轉換與計算機，數位相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示螢幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數位相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和列印。還可進行單晶矽，多晶矽進行尺寸測量數據。
配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。
配置大移動範圍的載物台，能快速和慢速移動。
粗微動同軸調焦機構，粗動鬆緊可調，帶限位鎖緊裝置。
6V 20W鹵素燈,亮度可調。
三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影
"矽片顯微鏡針對光伏產業的太陽能電池矽片檢查
矽片製備是製備符合矽器件和積體電路製作要求的單晶矽片的工藝，包括滾磨、切割、研磨、倒角、化學腐蝕、拋光，以及幾何尺寸和表面質量檢測等工序。
矽片製備 正文 配圖 相關連線光學顯微鏡（英文Optical Microscope，簡寫OM）是利用光學原理，把人眼所不能分辨的微小物體放大成像，以供人們提取微細結構信息的光學儀器。
介紹 分類 歷史發展 組成結構 光學原理原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表...
簡介 原理 優缺點 儀器結構 工作模式光聲顯微鏡的研製工作開始於20世紀70年代後期。是在光聲光譜技術和聲學顯微鏡的基礎上研製的一種新型顯微成像裝置。目前已出現多種類型的光聲顯微鏡系統，一般...
簡介 分類 套用原子力顯微鏡（AFM),是一種具有原子解析度的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首台原子力顯微鏡在1985年研發成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多...
顯微鏡由來 探針優缺點 生產銷售資訊 展望原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子解析度的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。
光伏技術可直接將太陽的光能轉換為電能，用此技術製作的光電池使用方便，特別是近年來微小型半導體逆變器迅速發展，促使其套用更加快捷。美、日、歐和開發中國家都...
光伏檢測實驗室簡介 光伏檢測實驗室組成 中國最大光伏實驗室