基本信息
作 者：殷純永主編
出 版 社：天津大學出版社
出版時間：1999-7-1
版 次：1頁 數：573字 數：602000 印刷時間：1999-7-1開 本：紙 張：膠版紙 印 次：I S B N：9787561810040包 裝：精裝
內容簡介
內容簡介
由於科學技術的進步，干涉測量技術已經得到相當廣泛的套用。一方面因為微電子、微機械、微光學和現代工業提出了愈來愈高的精度和更大的量程，其它方法難以勝任；另一方面因為當代干涉測量技術本身具有靈敏度高、量程大、可以適應惡劣環境、光波和米定義联系而容易溯源等特點，因而在現代工業中套用非常廣泛。
目前已經有幾個著名廠家的成熟的干涉儀產品，覆蓋了相當大的套用範圍。但是干涉儀畢竟不是一個簡單的工具，沒有一定的理論基礎難以正確使用，何況還有許多新的套用領域有待研究，需要更加深入的理論知識。
全國統編教材不可能有很大的篇幅介紹干涉測量技術。本書可作為光學儀器、計量測試、精密儀器等專業的高年級學生及研究生的教學參考書，同時也可供從事計量測試、儀器設計的工程技術人員參考。
參加本書各章編寫的專家和教授都長期在該領域從事科研和教學工作，許多章節成稿後又請了有關專家審閱。本書是中國計量科學院前院長趙克功博士提出，並取得德國政府和中國國家教育委員會資助的三本教材之一。參編人員曾分兩批赴德參觀訪問和收集資料。
目錄
1.緒論
1.1 歷史的簡單回顧
1.2 現代干涉儀
1.3 未來干涉儀的發展
2.經典干涉理論
2.1 光的干涉
2.2 干涉儀中的瞳和窗
3.相干性--現代相干理論
3.1 經典相干性理論
3.2 量子相干性理論
3.3 影響相干性的因素
3.4 改善相干性措施
3.5 干涉測量中常用的雷射器及其相干性
4.光波長和頻論的測量與復現
4.1 長度計量基準的發展
