1970年10月16日出生, 浙江杭州人。獲浙江大學和美國史丹福大學雙博士學位,現任杭州電子工業學院半導體雷射測量技術研究所所長、研究員。電路與系統專業碩士生導師。研究方向:光電測量,微弱信號檢測,工業過程實時線上測量。
1992年6月畢業於浙江大學光學儀器系,1992年9月至1997年6月在浙江大學光電與科學儀器系當博士生研究生,師從陸祖康教授。1997年9月至2001年2月在美國Stanford University機械工程系當博士研究生, 師從Ronald K. Hanson教授。畢業後先在半導體雷射器製造公司和半導體雷射器套用公司從事1.5微米波段VCSEL雷射器、量子級聯半導體雷射器、半導體雷射器的測量套用等研發工作。2002年6月至杭州電子工業學院工作。
研究員主要從事半導體雷射器的各種測量套用研究,參與研究中國首台全形度雷射條碼掃瞄器(浙江省科委項目)、波分復用Cavity Ringdown感測技術(美國AFOSR項目)、2.3um半導體雷射器套用(美國AFOSR和EPA項目)、VCSEL雷射器在惡劣環境下的測量套用(美國AFOSR項目)以及DLAS感測器在遙測機動車尾氣中的套用(美國EPA項目)。曾獲Measurement Science & Technology期刊2000年度最優論文獎。