核徑跡雙卡防偽技術

核徑跡雙卡防偽技術原理

核徑跡雙卡防偽技術原理是利用原子核或帶重電粒子以一定的速度射入固體材料時形成不同的徑跡,把這些徑跡攝取下來製成印刷版,壓製成雷射全息防偽標識,然後把標識一分為二,一半存入計算機,另一半貼上到產品上,檢測時用計算機識別儀合二為一地識別雷射圖像中的核徑跡,假冒標識立即顯形.

核徑跡雙卡防偽技術特點

以5～30μm的透明塑膠薄膜為原料用重離子發生器產生的重離子輻射能源，通過加速器將重離子加速至能量為80Mev以上，使重離子束輻射到塑膠薄膜上形成由1×105/cm個透氣透水微孔組成的防偽標識圖案，此圖案可依據客戶的要求設計。圖案未檢測前無色，檢測時先將附在其表面的保護膜撕下，然後用色筆或口紅等有色物質塗抹在防偽標識的表面，然後擦去表面的有色塗料，即顯現出因微孔中留有有色塗料而呈現的防偽圖案。由於製作微孔的重離子加速器屬國家專控設備，他人難以仿製。這種標識不怕開水、酸、鹽、醇等，可長期保存，隨時隨地可用彩筆等顏料檢測，便於消費者識別。這種微孔也可隨機形成各種各樣的組合，永不重複，而具有唯一性。檢測時用計算機自動識別，可用於票、證、卡的識別。

核徑跡雙卡防偽技術套用

該技術已用於海關的各種票據，防偽性能良好。