內容簡介
材料評價的高分辨電子顯微方法本書介紹了高分辨電子顯微方法的原理，解釋了像的襯度與原子排列的對應關係，給出了像計算的具體步驟；敘述了高分辨電子顯微像的種類及其具體的拍攝方法；強調了獲得最佳拍攝條件的重要性，討論了最佳條件拍攝的注意事項以及試樣厚度和離焦量等對象襯度的影響。本書用較大的篇幅介紹了該方法在材料評價中的套用，敘述的重點是各種晶格缺陷和每種材料的結構特徵，介紹了它們觀察方法和對象的解釋。作為相關技術，本書敘述了圖像處理，以及採用新的記錄載體進行了定量解析。另外，對電子衍射和弱束方法，以及用於高分辨電子顯微方法的各種試樣製備技術做了概述。
本書可供電子顯微學工作者、材料研究人員和大專院校有關專業的師生閱讀參考。
目錄
第1章 高分辨電子顯微方法的基礎
1.1 透射電子顯微鏡的原理
1.2 電子散射和傅立葉變換
1.3 高分辨電子顯微像的形成
1.3.1 薄膜試樣的高分辨電子顯微像
1.3.2 電子顯微鏡的解析度
1.3.3 厚度樣的高分辨電子顯微像
1.4 高分辨電子顯微像的計算機模擬
1.4.1 程式的構成和輸入的參數
1.4.2 在考慮晶格缺陷和吸收時的計算模擬
1.4.3 程式的檢查
參考文獻
第2章 高分辨電子顯微方法的實驗
2.1 高分辨電子顯微像的種類
2.1.1 晶格條紋
2.1.2 一維結構像
2.1.3 二維晶格像
2.1.4 二維結構像
2.1.5 特殊的像
2.2 高分辨電子顯微鏡觀察
2.2.1 像觀察前的注意事項
2.2.2 像觀察前的注意事項
2.2.3 拍攝像的選擇
2.2.4 像解釋時的注意事項
2.2.5 高分辨電子顯微鏡觀察的練習
參考文獻
第3章 高分辨電子顯微方法的套用
3.1 晶格缺陷、表面和界面的高分
3.1.1 位錯
3.1.2 晶界和相界面
3.1.3 表面
3.1.4 其他結構缺陷
3.2 各種物質的高分辨電子顯微像
3.2.1 陶瓷
3.2.2 超導氧化物
3.2.3有序合金
3.2.4 準晶
參考文獻
第4章 高分辨電子顯微方法的周邊技術
4.1 圖像處理
4.1.1 高分辨電子顯微像的輸入和輸出
4.1.2 高分辨電子顯微像圖像處理的實踐
4.2 定量解析
4.2.1 新記錄系統的原理
4.2.2 新的圖像記錄系統的特性
4.2.3 用殘差指數解析高分辨電子顯微像
4.3 電子衍射方法
4.3.1 電子衍射方法的基礎
4.3.2 電子衍射方法的實際操作
4.3.3 各種結構及其電子衍射花樣的特徵
4.4 弱束方法
4.4.1 弱束方法的原理和特點
4.4.2 弱束像的觀察程式
4.5 電子顯微鏡性能的評價
4.5.1 電子顯微鏡基本參數的評價
4.5.2 電子顯微鏡解析度的評價
4.6 試樣製備方法
4.6.1 粉碎方法
4.6.2 電解減薄方法
4.6.3 化學減薄方法
4.6.4 超薄切片方法
4.6.5 離子減薄片方法
4.6.6聚焦離子束方法
4.6.7 真空蒸塗方法
參考文獻
附錄
附錄1 物理常數、換算係數和電子波長等
附錄2晶體幾何學關係
……
參考文獻
索引
