介紹
指紋比對技術，是在兩個或兩個以上的指紋圖像中比較對照，核對指紋的技術。
核心技術
感應技術
「分散式穿透光掃描」
指紋比對技術當進行指紋掃描時，紅外線會由手指的四周照入， 並在手指中散射開來。在手指的隆線部分，由於光線會直接打在特殊鏡面上，故圖像較明亮；反之，在凹下部分，由於光線會在空氣層中散射開來，故所形成的影像較暗。
接著則由紅外線感測器擷取投射在特殊鏡面上的指紋圖像進行指紋辨識。此技術與一般的反射光方式相較之下，由於受到手指表面之空氣層狀態的影響較小，故無論是乾指或濕指，皆能擷取到清楚的圖像。
圖像處理技術
利用各種圖像處理技術，擷取出最清晰的指紋圖像
AGC（Automatic GainControl）
為根據不同的圖像濃度自動調整參數，以擷取出高畫質指紋圖像的一種機制。
去背・印象端處理
擷取出指紋範圍，並進行指紋印象端處理的機制。
紋樣抽出處理
自動去除掃描圖像中的「細紋・傷口」，以擷取出清晰的紋樣。
指紋比對技術「特徵點與關聯方式」
指紋圖像處理
指紋圖像在儲存前需先加密、數位化。
指紋認證裝置所擷取的指紋圖像會被立即數位化或加密，而非以原先圖像的方式儲存。
指紋圖像不會外流至網路上。
由於指紋圖像會被數位化、加密，因此在伺服器上比對時，也不會有指紋圖像外流至網路上的情形。
加密、數位化後的指紋數據無法再度還元成原先的指紋圖像。
指紋圖像一旦經加密、數位化後，變無法再度還元成原先的指紋圖像。
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結構
在指紋中向上隆起的條紋線稱為「隆起線」。一部分的隆起線會呈現出斷裂及分岔。斷裂處稱為「端點」，分岔處則稱為「分岔點」。以上兩點通稱「特徵點」。一般指紋的中心部含有大約50個左右的特徵點。從這些特徵點所取得的「位置」、「方向」都成為比對的基本數據。
僅比對特徵點的位置與方向，偶然還是會發生碰巧一致的可能性。 NEC為解決此問題，研發辨識「相連關係」的方式，加強指紋辨識的精準度。所謂的「相連關係」是指橫跨特徵點與其他特徵點之間的「隆起條紋」數量。(NEC已取得專利)
NEC的產品利用「特徵點與相連關係」的組合進行指紋比對。因而獲得更佳的比對精準度。
PID(Positive Identification)「1:N比對」與「1:1比對」
1:N比對 利用「輸入的指紋」去比對已登錄的所有指紋數據，
搜尋出一致的指紋方式。
1:1比對 在已登錄的眾多指紋中必須先輸入「ID號碼」，
方能進行個人的指紋比對方式。
NEC的指紋辨識系統，在比對時不需輸入ID號碼。這種「1対N指紋比對方式」在比對時只需將手指輕按即可。能提高使用者的方便性及安全性。
