產品用途
該系列產品適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環境下、檢驗其各項性能指標。
箱體結構:
冷熱測試機冷熱測試機箱體採用數控工具機加工成型，造型美觀大方，並採用無反作用把手，操作簡便。
冷熱測試機箱體內膽採用進口高級不鏽鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽採用A3鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔淨度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
機器底部採用高品質可固定式PU活動輪
箱體左側配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。
參數列表
選型
| 型號 | CLM-GD(J)W-100 | CLM-GD(J)W -225 | CLM-GD(J)W -500 | CLM-GD(J)W -800 | CLM-GD(J)W -010 |
| 工作室尺寸 D×W×H | 450×450×500 | 500×600×750 | 700×800×900 | 1000×800×1000 | 1000×1000×1000 |
| 外形尺寸D×W×H | 1020×800×1580 | 1070×10301×825 | 1370×1130×1975 | 1570×1230×2125 | 1570×1430×2125 |
| 總功率 | A:4.5KW B:4.7KW C/D;5.5KW | A:5KW B:6KW C/D:7KW | A:6KW B:7KW C/D:8.5KW | A:8KW B:11KW C/D;12KW | A:11KW B:12KW C/D:16KW |
| 淨重 | A:190kg B:260kg C/D:290kg | A:260kg B:290kg C/D:330kg | A:320kg B:390kg C/D:430kg | A:460kg B:520kg C/D:560kg | A:560kg B:610kg C/D:690kg |
性能指標
| 溫度範圍 | A:-20℃~130℃ B:-40℃~130℃ C:-60℃~130℃ D:-70℃~130℃ |
| 濕度範圍 | 30~98% R?H |
| 波動/均勻度 | ≤±0.5℃ /±2℃ |
| 溫度偏差 | +2%、-3%R?H |
| 升溫時間 | -20℃~100℃約35min -40℃~100℃約45min -70℃~100℃約55min |
| 降溫時間 | 25℃~40℃約55min 25℃~60℃約65min 25℃~70℃約80min |
溫濕度運行控制系統
| 控制器 | 進口微電腦溫濕度集成控制器（溫度直接顯示百分數） |
| 精度範圍 | 設定精度：溫度±0.1℃、濕度±0.1%R?H，指示精度：溫度± 0.1℃、溫度±0.1%R?H |
| 溫濕度感測器 | 鉑金電阻?PT100Ω |
| 加熱系統 | 完全獨立系統，鎳鉻合金電加熱式加熱器 |
| 加濕系 | 外置隔離式，全不鏽鋼鍋爐式淺表面蒸髮式加濕器 |
| 除濕系統 | 採用蒸發器盤管露點溫度層流接觸式加濕器 |
| 供水系統 | 加濕供水採用自動控制且可回收余水，節水降耗 |
| 製冷系統 | 全封閉風冷單級壓縮製冷方式/原裝“泰康”/全封閉風冷複選壓縮製冷方式 |
| 循環系統 | 耐溫低噪音空調型電機，多葉式離心風輪 |
可程式控制器
溫濕度控制儀表採用（觸控螢幕）全進口超大螢幕畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易。
控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由螢幕顯示。
具有120組程式12000段999循環步驟的容量，每段時間設定最大值為99小時59分。
資料及試驗條件輸入後，控制器具有螢屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機。
具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監視試驗過程並執行自動開關機等功能。
具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩定。
冷凍及風路循環系統
制冷機採用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
冷凍系統採用單元或二元式低溫迴路系統設計。
採用多翼式送風機強力送風循環，避免任何死角，可使測試區域內溫濕度分布均勻。
風路循環出風迴風設計，風壓、風速均符合測試標準，並可使開門瞬間溫濕度回穩時間快。
升溫、降溫、加濕系統完全獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
控制系統:
冷熱測試機溫度控制採用全進口觸摸按鍵式儀表，操作設定簡單。
資料及試驗條件輸入後，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
冷熱測試機具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩定。
電器控制主件採用韓國TEMI300儀表，更好地控制溫度.。
冷熱測試機符合標準：
GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件
GB10592-2006技術條件
GB11158-2006 高溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1) 試驗A：低溫試驗方法
GB2423.2-2001(IEC68-2-2) 試驗B：高溫試驗方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 高溫壽命試驗。
GJBl50.3-86(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。
GJBl50.4-86(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備
