冷熱測試機

冷熱測試機

冷熱測試機適用於航空航天產品,採用數控工具機加工成型,特點是採用無反作用把手,操作簡便。

產品用途

該系列產品適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環境下、檢驗其各項性能指標。

箱體結構:

冷熱測試機 冷熱測試機

冷熱測試機箱體採用數控工具機加工成型,造型美觀大方,並採用無反作用把手,操作簡便。

冷熱測試機箱體內膽採用進口高級不鏽鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽採用A3鋼板噴塑,增加了外觀質感和潔淨度。

大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮,且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內狀況。

機器底部採用高品質可固定式PU活動輪

箱體左側配直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用。

參數列表

選型

型號 CLM-GD(J)W-100 CLM-GD(J)W -225 CLM-GD(J)W -500 CLM-GD(J)W -800 CLM-GD(J)W -010
工作室尺寸 D×W×H 450×450×500 500×600×750 700×800×900 1000×800×1000 1000×1000×1000
外形尺寸D×W×H 1020×800×1580 1070×10301×825 1370×1130×1975 1570×1230×2125 1570×1430×2125
總功率 A:4.5KW B:4.7KW C/D;5.5KW A:5KW B:6KW C/D:7KW A:6KW B:7KW C/D:8.5KW A:8KW B:11KW C/D;12KW A:11KW B:12KW C/D:16KW
淨重 A:190kg B:260kg C/D:290kg A:260kg B:290kg C/D:330kg A:320kg B:390kg C/D:430kg A:460kg B:520kg C/D:560kg A:560kg B:610kg C/D:690kg

性能指標

溫度範圍 A:-20℃~130℃ B:-40℃~130℃ C:-60℃~130℃ D:-70℃~130℃
濕度範圍 30~98% R?H
波動/均勻度 ≤±0.5℃ /±2℃
溫度偏差 +2%、-3%R?H
升溫時間 -20℃~100℃約35min -40℃~100℃約45min -70℃~100℃約55min
降溫時間 25℃~40℃約55min 25℃~60℃約65min 25℃~70℃約80min

溫濕度運行控制系統

控制器 進口微電腦溫濕度集成控制器(溫度直接顯示百分數)
精度範圍 設定精度:溫度±0.1℃、濕度±0.1%R?H,指示精度:溫度± 0.1℃、溫度±0.1%R?H
溫濕度感測器 鉑金電阻?PT100Ω
加熱系統 完全獨立系統,鎳鉻合金電加熱式加熱器
加濕系 外置隔離式,全不鏽鋼鍋爐式淺表面蒸髮式加濕器
除濕系統 採用蒸發器盤管露點溫度層流接觸式加濕器
供水系統 加濕供水採用自動控制且可回收余水,節水降耗
製冷系統 全封閉風冷單級壓縮製冷方式/原裝“泰康”/全封閉風冷複選壓縮製冷方式
循環系統 耐溫低噪音空調型電機,多葉式離心風輪

可程式控制器

溫濕度控制儀表採用(觸控螢幕)全進口超大螢幕畫面,熒幕操作簡單,程式編輯容易。

控制器操作界面設中英文可供選擇,實時運轉曲線圖可由螢幕顯示。

具有120組程式12000段999循環步驟的容量,每段時間設定最大值為99小時59分。

資料及試驗條件輸入後,控制器具有螢屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機。

具有RS-232或RS-485通訊界面,可在電腦上設計程式,監視試驗過程並執行自動開關機等功能。

具有自動演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩定。

冷凍及風路循環系統

制冷機採用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。

冷凍系統採用單元或二元式低溫迴路系統設計。

採用多翼式送風機強力送風循環,避免任何死角,可使測試區域內溫濕度分布均勻。

風路循環出風迴風設計,風壓、風速均符合測試標準,並可使開門瞬間溫濕度回穩時間快。

升溫、降溫、加濕系統完全獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

控制系統:

冷熱測試機溫度控制採用全進口觸摸按鍵式儀表,操作設定簡單。

資料及試驗條件輸入後,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。

冷熱測試機具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩定。

電器控制主件採用韓國TEMI300儀表,更好地控制溫度.。

冷熱測試機符合標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件

GB10592-2006技術條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術條件

GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1) 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-2001(IEC68-2-2) 試驗B:高溫試驗方法。

GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 高溫壽命試驗。

GJBl50.3-86(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。

GJBl50.4-86(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。

GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們